يعرض 1 - 3 نتائج من 3 نتيجة بحث عن '"Kondrashov, Vladimir V."', وقت الاستعلام: 0.98s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Automation of Thin Film Flaw Detection Processes as a Stage in the Development of Laser Resistor Trimming Technology in Microelectronics

    المؤلفون: Kondrashov, Vladimir V., Zemlyakov, Evgeny V., Seredin, Oleg S., Chapkin, Vyacheslav V., Pozdeeva, Ekaterina Yu., Stankevich, Stanislav L.

    المصدر: 2023 IEEE 24th International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM) Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM), 2023 IEEE 24th International Conference of. :1660-1663 Jun, 2023

    Relation: 2023 IEEE 24th International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء