المؤلفون: Knoll, D., Ehwald, K.E., Heinemann, B., Fox, A., Blum, K., Rucker, H., Furnhammer, F., Senapati, B., Barth, R., Haak, U., Hoppner, W., Drews, J., Kurps, R., Marschmeyer, S., Richter, H.H., Grabolla, T., Kuck, B., Fursenko, O., Schley, P., Scholz, R., Tillack, B., Yamamoto, Y., Kopke, K., Wulf, H.E., Wolansky, D., Winkler, W.

المصدر: Digest. International Electron Devices Meeting, Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2002. IEDM '02. International. :783-786 2002

Relation: IEEE International Electron Devices Meeting

المؤلفون: Rucker, H., Heinemann, B., Barth, R., Bauer, J., Blum, K., Bolze, D., Drews, J., Fischer, G.G., Fox, A., Fursenko, O., Grabolla, T., Haak, U., Hoppner, W., Knoll, D., Kopke, K., Kuck, B., Mai, A., Marschmeyer, S., Morgenstern, T., Richter, H.H., Schley, P., Schmidt, D., Schulz, K., Tillack, B., Weidner, G., Winkler, W., Wolansky, D., Wulf, H.-E., Yamamototo, Y.

المصدر: 2007 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2007. IEDM 2007. IEEE International. :651-654 Dec, 2007

Relation: 2007 IEEE International Electron Devices Meeting

المؤلفون: Knoll, D., Heinemann, B., Ehwald, K. E., Fox, A., Rucker, H., Barth, R., Bolze, D., Grabolla, T., Haak, U., Drews, J., Kuck, B., Marschmeyer, S., Richter, H. H., Chaimanee, M., Fursenko, O., Schley, P., Tillack, B., Kopke, K., Yamamoto, Y., Wulf, H. E., Wolansky, D.

المصدر: 2006 International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2006. IEDM '06. International. :1-4 Dec, 2006

Relation: 2006 International Electron Devices Meeting

المؤلفون: Yamamoto, Y., Kopke, K., Zaumseil, P., Tillack, B.

المصدر: 2006 International SiGe Technology and Device Meeting SiGe Technology and Device Meeting, 2006. ISTDM 2006. Third International. :1-2 2006

Relation: 2006 International SiGe Technology and Device Meeting

المؤلفون: Rucker, H., Heinemann, B., Barth, R., Bolze, D., Drews, J., Haak, U., Hoppner, W., Knoll, D., Kopke, K., Marschmeyer, S., Richter, H.H., Schley, P., Schmidt, D., Scholz, R., Tillack, B., Winkler, W., Wulf, H.-E., Yamamoto, Y.

المصدر: IEEE International Electron Devices Meeting 2003 Electron devices IEDM'03 Electron Devices Meeting, 2003. IEDM '03 Technical Digest. IEEE International. :5.3.1-5.3.4 2003

Relation: IEEE International Electron Devices Meeting 2003

المؤلفون: Heinemann, B., Knoll, D., Barth, R., Bolze, D., Blum, K., Drews, J., Ehwald, K.-E., Fischer, G.G., Kopke, K., Kruger, D., Kurps, R., Rucker, H., Schley, P., Winkler, W., Wulf, H.-E.

المصدر: International Electron Devices Meeting. Technical Digest (Cat. No.01CH37224) Electron devices meeting 2001 Electron Devices Meeting, 2001. IEDM '01. Technical Digest. International. :15.6.1-15.6.4 2001

Relation: International Electron Devices Meeting. Technical Digest

المؤلفون: Kästner, D., Büchtemann, D., Warnke, I., Radisch, J., Baumgardt, J., Giersberg, S., Kopke, K., Moock, J., Kawohl, W., Rössler, W.

المصدر: In European Psychiatry September 2015 30(6):736-742

المؤلفون: Langhorst, J., Heldmann, P., Henningsen, P., Kopke, K., Krumbein, L., Lucius, H., Winkelmann, A., Wolf, B., Häuser, W.

المصدر: Der Schmerz: Organ der Deutschen Schmerzgesellschaft, der Österreichischen Schmerzgesellschaft und der Schweizerischen Gesellschaft zum Studium des Schmerzes. June 2017 31(3):289-295

المؤلفون: Bloemendal, S., Löper, D., Terfehr, D., Kopke, K., Kluge, J., Teichert, I., Kück, U.

المصدر: In Journal of Biotechnology 10 January 2014 169:51-62

المؤلفون: Sirsch, E., Schuler, M., Fischer, T., Gnass, I., Laekeman, M.A., Leonhardt, C., Berkemer, E., Drebenstedt, C., Löseke, E., Schwarzmann, G., Kopke, K., Lukas, A.

المصدر: Der Schmerz: Organ der Deutschen Gesellschaft zum Studium des Schmerzes, der Österreichischen Schmerzgesellschaft und der Deutschen Interdisziplinären Vereinigung für Schmerztherapie. August 2012 26(4):410-418