-
1مؤتمر
المؤلفون: Kremmer, J., Hotovy, I., Rehacek, V., Siroky, J., Spiess, L., Schawohl, J.
المصدر: The Fourth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystem Advanced semiconductor devices and microsystems Advanced Semiconductor Devices and Microsystems, 2002. The Fourth International Conference on. :107-110 2002
Relation: Proceedings of ASDAM'02 (4th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems)
-
2
المؤلفون: Hotovy I., Kremmer J., Huran J., Siciliano P., Capone S., Spiess L.
المصدر: 8th Italian Conference Sensors and Microsystems-AISEM, Trento (Italia), 2003
info:cnr-pdr/source/autori:Hotovy I., Kremmer J., Huran J., Siciliano P., Capone S., Spiess L./congresso_nome:8th Italian Conference Sensors and Microsystems-AISEM/congresso_luogo:Trento (Italia)/congresso_data:2003/anno:2003/pagina_da:/pagina_a:/intervallo_pagineURL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=cnr_________::ee2074262a012bcc158a8bddc5455af0
https://publications.cnr.it/doc/115525 -
3مؤتمر
المؤلفون: HOTOVY, I., KREMMER, J., HURAN, J., SICILIANO, P., CAPONE, S., SPIESS, L.
المصدر: Sensors & Microsystems - Proceedings of the 8th Italian Conference; 2004, p185-190, 6p
مصطلحات موضوعية: GAS detectors, MAGNETRON sputtering, NICKEL oxide, THIN films, CHEMICAL vapor deposition
-
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Rothenstein, B. F., Kremmer, J., Artzner, J.
المصدر: Journal of Physics. E: Journal of Scientific Instruments (09501290); Sep1968, Vol. 1 Issue 9, p1-1, 1p
-
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.