-
1كتاب إلكتروني
المؤلفون: Gödeke, H.Aff2, Löffler, R.Aff2
المساهمون: Liebl, Johannes, editorAff1
المصدر: Ladungswechsel im Verbrennungsmotor 2017 : Elektrifizierung im Umfeld Ladungswechsel 10. MTZ-Fachtagung. :193-210
-
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4كتاب إلكتروني
المؤلفون: Scharm, H.Aff3, Maurer, F.Aff3, Neuber, D.Aff3, Löffler, R.Aff3, Rantzau, D.Aff3, Banek, D.Aff3
المساهمون: Hansmann, W., editor, Purgathofer, W., editor, Sillion, F., editor, Fröhlich, Bernd, editorAff1, Deisinger, Joachim, editorAff2, Bullinger, Hans-Jörg, editorAff2
المصدر: Immersive Projection Technology and Virtual Environments 2001 : Proceedings of the Eurographics Workshop in Stuttgart, Germany, May 16–18, 2001. :247-255
-
5كتاب إلكتروني
المؤلفون: Rantzau, D.Aff3, Maurer, F.Aff3, Mayer, C.Aff3, Löffler, R.Aff3, Riedel, O.Aff3, Scharm, H.Aff3, Banek, D.Aff3
المساهمون: Hansmann, W., editor, Purgathofer, W., editor, Sillion, F., editor, Fröhlich, Bernd, editorAff1, Deisinger, Joachim, editorAff2, Bullinger, Hans-Jörg, editorAff2
المصدر: Immersive Projection Technology and Virtual Environments 2001 : Proceedings of the Eurographics Workshop in Stuttgart, Germany, May 16–18, 2001. :93-102
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Löffler, R., Fleischer, M., Kern, D.P.
المصدر: In Microelectronic Engineering September 2012 97:361-364
-
7دورية أكاديمية
Alternate Title: Sichtbarmachung von Ummagnetisierungsprozessen mittels dynamischer Kerr-Mikroskopie. (German)
المؤلفون: Hohs, D., Klett, S., Löffler, R., Trier, F., Goll, D., Schneider, G.
المصدر: Practical Metallography / Praktische Metallographie; Jan2023, Vol. 60 Issue 1, p37-52, 16p
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Löffler, R., Häffner, M., Visanescu, G., Weigand, H., Wang, X., Zhang, D., Fleischer, M., Meixner, A.J., Fortágh, J., Kern, D.P.
المصدر: In Carbon 2011 49(13):4197-4203
-
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Häffner, M., Kemmler, M., Löffler, R., Gómez, B. Vega, Fleischer, M., Kleiner, R., Koelle, D., Kern, D.P.
المصدر: In Microelectronic Engineering 2009 86(4):895-897