-
1
المؤلفون: S. Monfray, S. Guerber, A. Montagné, D. Fowler, P. Grosse, J. Planchot, D. Ristoiu, F. Baron, M. Brihoum, L. Babaud, A. Taute, E. Kempf, K. Rovayaz, P. Chantraine, S. Delmedico, F. Leverd, L. Balme, D. Pellissier, K. Haxaire, M. Guillermet, S. Mermoz, M. Hello, S. Jan, P. Chevalier, F. Boeuf
المصدر: Optical Fiber Communication Conference (OFC) 2022.
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bbaf3690ef8682ed787a39a000bfed76
https://doi.org/10.1364/ofc.2022.th1e.5 -
2
المؤلفون: B. Le-Gratiet, G. Druais, Denis Rideau, Marie-Anne Jaud, J.-D. Chapon, D. Hoguet, M. Mellier, L. Babaud, Clement Pribat, Emmanuel Josse, D. Barge, S. Puget, J. Mazurier, L. Grenouillet, Nicolas Loubet, S. Zoll, Thierry Poiroux, Jerome Simon, S.P. Fetterolf, M. Bidaud, S. Chhun, M. Vinet, Quanwei Liu, R. Bianchini, E. Bernard, J.-F. Kruck, X. Gerard, C. Gaumer, A. Pofelski, Francois Andrieu, Mustapha Rafik, Olivier Weber, N. Guillot, Pascal Gouraud, F. Abbate, O. Faynot, N. Degors, Olivier Gourhant, Antoine Cros, L. Parmigiani, E. Petitprez, J. Lacord, Patrick Scheer, C. Monget, Michel Haond, Evelyne Richard, P. Maury, Bruce B. Doris, M. Celik, Daniel Benoit, Frederic Monsieur, E. Baylac, L. Clément, S. Lagrasta, Magali Gregoire, J.-P. Manceau, S. Lasserre, P. Perreau, P. Brun, C. Gallon, V. Beugin, Remi Beneyton, Eric Perrin, S. Delmedico, R. Bingert
المصدر: 2014 Symposium on VLSI Technology (VLSI-Technology): Digest of Technical Papers.
مصطلحات موضوعية: Very-large-scale integration, business.industry, Computer science, Transistor, Electrical engineering, law.invention, law, Logic gate, MOSFET, Dynamic demand, Electronic engineering, Static random-access memory, business, Electrical efficiency, Efficient energy use
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::aedffd54e01f33ec4661fa88cc9e090c
https://doi.org/10.1109/vlsit.2014.6894343 -
3
المؤلفون: J. Foucher, L. Babaud, Erwine Pargon, Marta Martin, S. Bécu, Vincent Farys
المصدر: SPIE Proceedings.
مصطلحات موضوعية: Engineering, Criticality, business.industry, Electrical engineering, Calibration, Process control, Node (circuits), Process window, Electronics, business, Reference model, Reliability engineering, Metrology
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::17a9f186107434f83126c6c863af368a
https://doi.org/10.1117/12.805296 -
4مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.