-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: H. Payne, A. Robinson, B. Rappe, S. Hilman, U. De Giorgi, S. Joniau, R. Bordonaro, S. Mallick, L. Dourthe, M. Mira Flores, J. Gumà, B. Baron, A. Duran, A. Pranzo, A. Serikoff, M. De Santis
المصدر: European Urology Open Science, Vol 19, Iss , Pp e883-e884 (2020)
مصطلحات موضوعية: Diseases of the genitourinary system. Urology, RC870-923, Neoplasms. Tumors. Oncology. Including cancer and carcinogens, RC254-282
وصف الملف: electronic resource
-
2
المؤلفون: Roberto Bordonaro, Aurea Duran, B. Rappe, L. Dourthe, M. De Santis, S. Joniau, U. De Giorgi, M. Mira Flores, Serena Hilman, J. Gumà, A. Serikoff, H. Payne, Benoit Baron, S. Mallick, Angus Robinson, A. Pranzo
المصدر: European Urology Open Science, Vol 19, Iss, Pp e883-e884 (2020)
مصطلحات موضوعية: Oncology, medicine.medical_specialty, business.industry, Urology, Castration resistant, lcsh:Diseases of the genitourinary system. Urology, lcsh:RC870-923, lcsh:Neoplasms. Tumors. Oncology. Including cancer and carcinogens, medicine.disease, lcsh:RC254-282, chemistry.chemical_compound, Prostate cancer, chemistry, Internal medicine, medicine, Enzalutamide, Observational study, In patient, business
-
3
المؤلفون: Maud Vinet, Virginie Loup, Bernard Previtali, G. Audoit, Vincent Delaye, V. Lapras, Mikael Casse, Joris Lacord, Sylvain Barraud, Thomas Ernst, Nicolas Bernier, N. Rambal, Olivier Rozeau, V. Balan, L. Dourthe, Zdenek Chalupa, A. Jannaud, Sebastien Martinie, C. Vizioz, J.M. Hartmann, G. Romano
المصدر: 2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Materials science, business.industry, Spice, Silicon on insulator, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, 02 engineering and technology, Condensed Matter::Mesoscopic Systems and Quantum Hall Effect, 021001 nanoscience & nanotechnology, Electrostatics, 01 natural sciences, 0103 physical sciences, MOSFET, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Optoelectronics, 0210 nano-technology, business, Metal gate, Hardware_LOGICDESIGN, Communication channel
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0655b963a78cafb62cfba4ac52ba9005
https://doi.org/10.1109/iedm.2018.8614507 -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5
المؤلفون: Christian Penzkofer, L. Dourthe, P. Faurie, Bernd Irmer, Johann Foucher
المصدر: SPIE Proceedings.
مصطلحات موضوعية: Stack (abstract data type), Computer science, business.industry, Process (computing), Nanotechnology, Process engineering, business, Lithography, Immersion lithography, Metrology
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::430d38af12c19570e7fe9a1d79bea660
https://doi.org/10.1117/12.870745 -
6
المؤلفون: J. Foucher, P. Faurie, L. Dourthe, B. Irmer, C. Penzkofer, David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald, Amal Chabli, Erik M. Secula
المصدر: AIP Conference Proceedings.
مصطلحات موضوعية: Surface coating, Accuracy and precision, Materials science, Optics, Stack (abstract data type), Proximity effect (electron beam lithography), business.industry, business, Critical dimension, Lithography, Immersion lithography, Metrology
-
7
المؤلفون: J. Foucher, L. Dourthe, A.-L. Foucher
المصدر: SPIE Proceedings.
مصطلحات موضوعية: Optics, Atomic force microscopy, Etching (microfabrication), business.industry, Computer science, Process control, Mechanical engineering, Node (circuits), Repeatability, Edge (geometry), business, Lithography, Metrology
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0bcd52156859378fb5718dbac7982f88
https://doi.org/10.1117/12.846731 -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.