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1
المؤلفون: L. Gaben, R. Berthelon, F. Andrieu, D. Rouchon, D. Dutartre, F. Roze, M. Vinet
المصدر: Extended Abstracts of the 2018 International Conference on Solid State Devices and Materials.
مصطلحات موضوعية: Materials science, Strain (chemistry), business.industry, Optoelectronics, Channel (broadcasting), business, Spectroscopy
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9c591225a5ce1c358c0b8e0f57c40662
https://doi.org/10.7567/ssdm.2018.c-3-02 -
2
المؤلفون: B. Hemard, Sébastien Barnola, L. Gaben, S. Pauliac, Virginie Loup, C. Euvrard, J.-A. Dallery, Y. Exbrayat, M.-P. Samson, Thomas Skotnicki, Christian Arvet, M. Vinet, X. Bossy, C. Vizioz, L. Koscianski, Frederic Boeuf, C. Perrot, R. Dechanoz, J. Bustos, B. Previtali, B. Perrin, V. Balan, Francis Balestra, James C. Sturm, S. Barraud, Stephane Monfray, Pascal Besson
المساهمون: STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019]), Vistec Electron Beam GmbH
المصدر: 2017 EUROSOI-ULIS Proceedings
2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS)
2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), Apr 2017, Athens, Greece. pp.120-123, ⟨10.1109/ULIS.2017.7962617⟩مصطلحات موضوعية: Extreme ultraviolet lithography, 3D lithography, Nanowire, Nanotechnology, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, 01 natural sciences, stacked nanowire FETs, law.invention, SNWFET, chemistry.chemical_compound, Etching (microfabrication), law, 0103 physical sciences, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, HSQ, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Lithography, Hydrogen silsesquioxane, 010302 applied physics, business.industry, Transistor, CMOS, chemistry, Logic gate, FinFET, Optoelectronics, business
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ca7595340398bf8248e822cfce7e8ba8
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02014232 -
3
المؤلفون: N. Rambal, I. Tinti, Zineb Saghi, V. Balan, O. Faynot, G. Audoit, Nicolas Bernier, F. Allain, Christian Arvet, Claude Tabone, Nicolas Posseme, B. Previtalli, Sylvain Barraud, C. Vizioz, J.M. Hartmann, A. Toffoli, E. Augendre, C. Euvrard, L. Gaben, Yves Morand, Patricia Pimenta-Barros, C. Comboroure, V. Lapras, R. Coquand, V. Maffini-Alvaro, Shay Reboh, David Cooper, Laurent Grenouillet, M.-P. Samson, J. Daranlot, Olivier Rozeau, Maud Vinet, Virginie Loup
المساهمون: Laboratoire de Génie Civil et d'Ingénierie Environnementale (LGCIE), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES), Funding : the NANO 2017 program, European Project: 688101,H2020,H2020-ICT-2015,SUPERAID7(2016)
المصدر: 2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Dec 2016, San Francisco, United States. ⟨10.1109/IEDM.2016.7838441⟩مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Fabrication, Materials science, Silicon, business.industry, Transistor, Nanowire, chemistry.chemical_element, 02 engineering and technology, 021001 nanoscience & nanotechnology, 01 natural sciences, Silicon-germanium, law.invention, chemistry.chemical_compound, [SPI]Engineering Sciences [physics], chemistry, law, 0103 physical sciences, Electronic engineering, Optoelectronics, Precession electron diffraction, Field-effect transistor, 0210 nano-technology, business, Metal gate
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::29412b777acc4388dc0419b37ccb3235
https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-01973383/document
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4
المؤلفون: L. Gaben, F. Lorut, A. Valery, L. Clément, M. Grégoire, Y. Le-Friec
المصدر: Extended Abstracts of the 2016 International Conference on Solid State Devices and Materials.
مصطلحات موضوعية: Materials science, Nanotechnology, Advanced materials, Microstructure
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3e2eb6ab5bb4bf322e3bc48225f31fe5
https://doi.org/10.7567/ssdm.2016.ps-1-11 -
5
المؤلفون: Thomas Skotnicki, L. Koscianski, M.-P. Samson, S. Pauliac, M. Vinet, J. Bustos, Stephane Monfray, J.-A. Dallery, Frederic Boeuf, Francis Balestra, X. Bossy, L. Gaben, R. Dechanoz, S. Barraud, B. Hemard
المساهمون: STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES), Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (CEA-LETI), Université Grenoble Alpes (UGA)-Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), Ducroquet, Frédérique, Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])
المصدر: Book of Abstracts of the 2016 SSDM
2016 International Conference on Solid State Devices and Materials
2016 International Conference on Solid State Devices and Materials, Sep 2016, Tsukuba, Japan. pp.O-3-03 FinFET and Nanowire FETمصطلحات موضوعية: Fabrication, Materials science, business.industry, [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Nanowire, Optoelectronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, business, Lithography, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::4667bf7f5eabe603978df3f1fb87c46a
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02015707 -
6
المؤلفون: Francis Balestra, Frederic Boeuf, Arthur Arnaud, L. Gaben, Thomas Skotnicki, C. Vizioz, Stephane Monfray, J.M. Hartmann, Marios Barlas, S. Barraud, Christian Arvet, M.-P. Samson, M. Vinet
المساهمون: Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019]), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES)
المصدر: 2016 SNW proceedings
2016 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW)
2016 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), Jun 2016, Honolulu, United States. pp.136-137, ⟨10.1109/SNW.2016.7578020⟩مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Materials science, Silicon, Hybrid silicon laser, business.industry, Nanowire, chemistry.chemical_element, Silicon on insulator, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, 01 natural sciences, Silicon-germanium, chemistry.chemical_compound, chemistry, Buckling, Robustness (computer science), Mechanical stability, 0103 physical sciences, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Electronic engineering, Optoelectronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, business
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::16aa40395878f75fd766f16ed3c332bc
https://doi.org/10.1109/snw.2016.7578020 -
7
المؤلفون: Maud Vinet, Thomas Skotnicki, C. Vizioz, Catherine Euvrard-Colnat, Christian Arvet, Stephane Monfray, L. Gaben, Sebastien Pauliac, Jessy Bustos, F. Boeuf, Jacques-Alexandre Dallery, Marie-Pierre Samson, Joris Lacord, Jean-Michel Hartmann, Francis Balestra, Viorel Balan, Olivier Rozeau, Virginie Loup, Pascal Besson, Marie-Anne Jaud, S. Barraud, Sebastien Martinie, Cédric Perrot
المساهمون: STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Vistec Electron Beam GmbH, Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019]), F. Roozeboom, P.J. Timans, E.P. Gusev, V. Narayanan, K. Kakushima, Z. Karim, S. De Gendt, Ducroquet, Frédérique
المصدر: 229th ECS Meeting: 6th Symposium on Silicon Compatible Materials, Processes, and Technologies for Advanced Integrated Circuits and Emerging Applications
229th ECS Meeting: 6th Symposium on Silicon Compatible Materials, Processes, and Technologies for Advanced Integrated Circuits and Emerging Applications, F. Roozeboom, P.J. Timans, E.P. Gusev, V. Narayanan, K. Kakushima, Z. Karim, S. De Gendt, May 2016, San Diego, United States
ECS Transactions
ECS Transactions, Electrochemical Society, Inc., 2016, 72 (4), pp.43-54. ⟨10.1149/07204.0043ecst⟩
ECS Transactions, 2016, 72 (4), pp.43-54. ⟨10.1149/07204.0043ecst⟩مصطلحات موضوعية: Engineering, Silicon, [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Nanowire, chemistry.chemical_element, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, 7. Clean energy, law.invention, Footprint (electronics), chemistry.chemical_compound, law, 0103 physical sciences, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Lithography, Hydrogen silsesquioxane, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, 010302 applied physics, business.industry, 020208 electrical & electronic engineering, Transistor, Electrical engineering, chemistry, CMOS, Optoelectronics, business
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8
المؤلفون: Frederic Boeuf, S. Barraud, F. Balestra, F. Alain, T. Skotnicki, B. Previtali, P. Besson, S. Monfray, J. Pradelles, P. Pimenta-Barros, M Vinet, Yves Morand, M.-P. Samson, L. Gaben
المساهمون: Ducroquet, Frédérique, STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])
المصدر: Book of abstracts of the 2015 SSDM
2015 international Conference on Solid State Devices and Materials
2015 international Conference on Solid State Devices and Materials, Sep 2015, Sapporo, Japan. N-2-2 Process for fully depleted devicesمصطلحات موضوعية: Materials science, Image transfer, business.industry, [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Nanowire, Optoelectronics, Nanowire transistors, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, business, Communication channel
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c96ac4452a400e8a8d408a6225225575
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02015323 -
9
المؤلفون: M.-P. Samson, M. Casse, O. Rozeau, L. Gaben, M. Vinet, J. Laccord, F. Glowacki, N. Bernier, Sebastien Martinie, B. De Salvo, V. Maffini-Alvaro, F. Allain, P. Pimenta-Barros, S. Barraud, Phuong Nguyen, J.M. Hartmann, Marie-Anne Jaud, C. Vizioz, Claude Tabone, Christian Arvet
المصدر: 2015 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S).
مصطلحات موضوعية: CMOS, Computer science, Emphasis (telecommunications), MOSFET, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Nanowire, Electronic engineering, Silicon on insulator, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Nanowire transistors, Cmos scaling, Hardware_LOGICDESIGN
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e6ac522b46a981dd8e7da70d460de759
https://doi.org/10.1109/s3s.2015.7333520 -
10
المؤلفون: F. Balestra, Gaspard Hiblot, Thomas Skotnicki, Sebastien Martinie, M. Vinet, Joris Lacord, Stephane Monfray, Frederic Boeuf, S. Barraud, L. Gaben, O. Rozeau, M.-A. Jaud
المصدر: Extended Abstracts of the 2015 International Conference on Solid State Devices and Materials.
مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, law, Node (networking), Transistor, Nanowire, Optoelectronics, business, law.invention
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::87b42a790c2679f862a7158eac606546
https://doi.org/10.7567/ssdm.2015.k-4-2
