المؤلفون: C. Laguna, M. Bernard, J. Garrione, F. Fillot, F. Aussenac, D. Rouchon, G. Lima, L. Militaru, A. Souifi, G. Navarro

المصدر: Journal of Applied Physics. 133:074501

مصطلحات موضوعية: General Physics and Astronomy

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::38ad2cc880599bcab06372d1519d24da
https://doi.org/10.1063/5.0134947

المؤلفون: Thierry Baron, D. Deleruyelle, P.V. Guenery, Serge Blonkowski, Abdelkader Souifi, L. Militaru, J. Moeyaert, Khaled Ayadi, E. A. Leon Perez, Nicolas Baboux

المساهمون: INL - Plateforme Technologique Nanolyon (INL - Nanolyon), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE), INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE), STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES), Laboratoire des technologies de la microélectronique (LTM ), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: Solid-State Electronics
Solid-State Electronics, Elsevier, 2021, pp.107958. ⟨10.1016/j.sse.2021.107958⟩
Solid-State Electronics, 2021, pp.107958. ⟨10.1016/j.sse.2021.107958⟩

مصطلحات موضوعية: Materials science, Oxide, chemistry.chemical_element, Nanoparticle, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, 7. Clean energy, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, chemistry.chemical_compound, [SPI]Engineering Sciences [physics], Stack (abstract data type), 0103 physical sciences, Materials Chemistry, Metalorganic vapour phase epitaxy, Electrical and Electronic Engineering, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, 010302 applied physics, Atomic force microscopy, business.industry, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Resistive random-access memory, chemistry, CMOS, Optoelectronics, 0210 nano-technology, business, Indium

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::731be2b61c72b31c3e267217d1e297cc
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03116248

المؤلفون: Mathieu Bernard, M.-C. Cyrille, Etienne Nowak, Denis Rouchon, Emmanuel Nolot, Guillaume Bourgeois, G. Navarro, C. Laguna, L. Militaru, Névine Rochat, J. Garrione, A. Souifi, N. Castellani, C. Sabbione

المساهمون: CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information, Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), European Project: 783176,WAKeMeUp, Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: IMW 2020-2020 IEEE International Memory Workshop
IMW 2020-2020 IEEE International Memory Workshop, May 2020, Dresde, Germany. pp.1-4, ⟨10.1109/IMW48823.2020.9108130⟩
2020 IEEE International Memory Workshop (IMW)

مصطلحات موضوعية: symbols.namesake, [SPI]Engineering Sciences [physics], Reliability (semiconductor), Materials science, business.industry, symbols, Performance tuning, Optoelectronics, Thermal stability, Raman spectroscopy, business, Characterization (materials science)

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::49730e4f31549ee950526afd81682f17
https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-02930899/file/CL-IMW2020-SUBMITTED.pdf

المؤلفون: Ponikowski, P. Kirwan, B.-A. Anker, S.D. McDonagh, T. Dorobantu, M. Drozdz, J. Fabien, V. Filippatos, G. Göhring, U.M. Keren, A. Khintibidze, I. Kragten, H. Martinez, F.A. Metra, M. Milicic, D. Nicolau, J.C. Ohlsson, M. Parkhomenko, A. Pascual-Figal, D.A. Ruschitzka, F. Sim, D. Skouri, H. van der Meer, P. Lewis, B.S. Comin-Colet, J. von Haehling, S. Cohen-Solal, A. Danchin, N. Doehner, W. Dargie, H.J. Motro, M. Butler, J. Friede, T. Jensen, K.H. Pocock, S. Jankowska, E.A. Azize, G. Fernandez, A. Zapata, G.O. Garcia Pacho, P. Glenny, A. Ferre Pacora, F. Parody, M.L. Bono, J. Beltrano, C. Hershson, A. Vita, N. Luquez, H.A. Cestari, H.G. Fernandez, H. Prado, A. Berli, M. García Durán, R. Thierer, J. Diez, M. Lobo Marquez, L. Borelli, R.R. Hominal, M.Á. Ameri, P. Agostoni, P. Salvioni, A. Fattore, L. Gronda, E. Ghio, S. Turrini, F. Uguccioni, M. Di Biase, M. Piepoli, M. Savonitto, S. Mortara, A. Terrosu, P. Fucili, A. Boriani, G. Midi, P. Passamonti, E. Cosmi, F. van der Meer, P. Van Bergen, P. van de Wetering, M. Al-Windy, N.Y.Y. Tanis, W. Meijs, M. Groutars, R.G.E.J. The, H.K.S. Kietselaer, B. van Kesteren, H.A.M. Beelen, D.P.W. Heymeriks, J. Van de Wal, R. Schaap, J. Emans, M. Westendorp, P. Nierop, P.R. Nijmeijer, R. Manintveld, O.C. Dorobantu, M. Darabantiu, D.A. Zdrenghea, D. Toader, D.M. Petrescu, L. Militaru, C. Crisu, D. Tomescu, M.C. Stanciulescu, G. Rodica Dan, A. Iosipescu, L.C. Serban, D.L. Drozdz, J. Szachniewicz, J. Bronisz, M. Tycińska, A. Wozakowska-Kaplon, B. Mirek-Bryniarska, E. Gruchała, M. Nessler, J. Straburzyńska-Migaj, E. Mizia-Stec, K. Szelemej, R. Gil, R. Gąsior, M. Gotsman, I. Halabi, M. Shochat, M. Shechter, M. Witzling, V. Zukermann, R. Arbel, Y. Flugelman, M. Ben-Gal, T. Zvi, V. Kinany, W. Weinstein, J.M. Atar, S. Goland, S. Milicic, D. Horvat, D. Tušek, S. Udovicic, M. Šutalo, K. Samodol, A. Pesek, K. Artuković, M. Ružić, A. Šikić, J. McDonagh, T. Trevelyan, J. Wong, Y.-K. Gorog, D. Ray, R. Pettit, S. Sharma, S. Kabir, A. Hamdan, H. Tilling, L. Baracioli, L. Nigro Maia, L. Dutra, O. Reis, G. Pimentel Filho, P. Saraiva, J.F. Kormann, A. dos Santos, F.R. Bodanese, L. Almeida, D. Precoma, D. Rassi, S. Costa, F. Kabbani, S. Abdelbaki, K. Abdallah, C. Arnaout, M.S. Azar, R. Chaaban, S. Raed, O. Kiwan, G. Hassouna, B. Bardaji, A. Zamorano, J. del Prado, S. Gonzalez Juanatey, J.R. Ga Bosa Ojeda, F.I. Gomez Bueno, M. Molina, B.D. Sim, D. Yeo, T.J. Loh, S.Y. Soon, D. Ohlsson, M. Smith, J.G. Gerward, S. Khintibidze, I. Lominadze, Z. Chapidze, G. Emukhvari, N. Khabeishvili, G. Chumburidze, V. Paposhvili, K. Shaburishvili, T. Parhomenko, O. Kraiz, I. Koval, O. Zolotaikina, V. Malynovsky, Y. Vakaliuk, I. Rudenko, L. Tseluyko, V. Stanislavchuk, M. AFFIRM-AHF investigators

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2127::4c395978b99d9565c1454ab70c7ba144
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/uoadl:3103375

المؤلفون: Slah Hlali, Neila Hizem, Abdelkader Souifi, Adel Kalboussi, L. Militaru

المساهمون: Laboratoire de Microélectronique et Instrumentations [Monastir], Faculté des Sciences de Monastir (FSM), Université de Monastir - University of Monastir (UM)-Université de Monastir - University of Monastir (UM), INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2017, 75, pp.154. ⟨10.1016/j.microrel.2017.06.056⟩

مصطلحات موضوعية: Materials science, Gate dielectric, Equivalent oxide thickness, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, Capacitance, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, law.invention, law, 0103 physical sciences, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Electrical and Electronic Engineering, Safety, Risk, Reliability and Quality, High-κ dielectric, [PHYS]Physics [physics], 010302 applied physics, [PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS]Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics], business.industry, Doping, Electrical engineering, Heterojunction, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Capacitor, Semiconductor, [SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic, Optoelectronics, 0210 nano-technology, business

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6de5eea8beb52fe1a52f3ae8e3d406ad
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.06.056

المؤلفون: Thierry Baron, E. A. Leon Perez, J. Moeyaert, Serge Blonkowski, Nicolas Baboux, L. Militaru, Khaled Ayadi, S. Labau, Abdelkader Souifi, D. Deleruyelle, Pierre-Vincent Guenery

المساهمون: Laboratoire des technologies de la microélectronique (LTM ), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019]), Institut National des Sciences Appliquées (INSA), INL - Plateforme Technologique Nanolyon (INL - Nanolyon), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE), INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE), STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: IEEE
2018 IEEE 18th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO)
2018 IEEE 18th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO), Jul 2018, Cork, Ireland. pp.1-2, ⟨10.1109/NANO.2018.8626323⟩

مصطلحات موضوعية: Fabrication, Nanostructure, Materials science, business.industry, 020209 energy, Oxide, chemistry.chemical_element, 02 engineering and technology, 021001 nanoscience & nanotechnology, Resistive random-access memory, chemistry.chemical_compound, chemistry, CMOS, Dispersion (optics), 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Optoelectronics, Metalorganic vapour phase epitaxy, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, 0210 nano-technology, business, Indium, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::10288e06c600adc86d13dca3c3d4f87c
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02330674

المؤلفون: Nicolas Baboux, Pierre-Vincent Guenery, K. Hamga, Gérard Benassayag, Dominique Drouin, Caroline Bonafos, E. Cossec, Béatrice Pécassou, Robin Cours, Abdelkader Souifi, L. Militaru, Serge Ecoffey

المساهمون: Nano-Optique et Nanomatériaux pour l'optique ( CEMES-NeO ), Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales ( CEMES ), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse ( INSA Toulouse ), Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Université Paul Sabatier - Toulouse 3 ( UPS ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse ( INSA Toulouse ), Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Université Paul Sabatier - Toulouse 3 ( UPS ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ), Matériaux et dispositifs pour l'Electronique et le Magnétisme ( CEMES-MEM ), INL - Dispositifs Electroniques ( INL - DE ), Institut des Nanotechnologies de Lyon ( INL ), École Centrale de Lyon ( ECL ), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 ( UCBL ), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon ( CPE ) -Institut National des Sciences Appliquées de Lyon ( INSA Lyon ), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -École Centrale de Lyon ( ECL ), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ), Laboratoire Nanotechnologies Nanosystèmes ( LN2 ), Université de Sherbrooke [Sherbrooke]-École Centrale de Lyon ( ECL ), Université de Lyon-Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon ( CPE ) -Institut National des Sciences Appliquées de Lyon ( INSA Lyon ), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -Université Grenoble Alpes ( UGA ), Nano-Optique et Nanomatériaux pour l'optique (CEMES-NeO), Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales (CEMES), Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Chimie de Toulouse (ICT-FR 2599), Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Matériaux et dispositifs pour l'Electronique et le Magnétisme (CEMES-MEM), INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE), Laboratoire Nanotechnologies Nanosystèmes (LN2 ), Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Sherbrooke (UdeS)-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique [Sherbrooke] (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie de Toulouse (ICT), Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])

المصدر: Materials Research Express
Materials Research Express, IOP Publishing Ltd, 2018, 5, pp.015027. 〈10.1088/2053-1591/aaa30b〉
Materials Research Express, IOP Publishing Ltd, 2018, 5, pp.015027. ⟨10.1088/2053-1591/aaa30b⟩
Materials Research Express, 2018, 5, pp.015027. ⟨10.1088/2053-1591/aaa30b⟩

مصطلحات موضوعية: Materials science, Polymers and Plastics, Ion beam, [ SPI.MAT ] Engineering Sciences [physics]/Materials, Oxide, Nanoparticle, chemistry.chemical_element, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, Biomaterials, chemistry.chemical_compound, 0103 physical sciences, Electrical measurements, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, 010302 applied physics, [PHYS]Physics [physics], Resistive touchscreen, [ PHYS ] Physics [physics], business.industry, Metals and Alloys, 021001 nanoscience & nanotechnology, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Resistive random-access memory, Ion implantation, chemistry, [SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic, Optoelectronics, [ SPI.NANO ] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [ SPI.OPTI ] Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic, 0210 nano-technology, business, Indium

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b27ddf802a3c40ee488490dc69e33614
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01701543

المؤلفون: Daniel Thomas, Lucian Roiban, A Malchère, L. Militaru, Etienne Puyoo, M. Le Berre, David Albertini, Thierry Epicier, Siddardha Koneti, Francis Calmon, Andrei Sabac

المساهمون: INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Matériaux, ingénierie et science [Villeurbanne] (MATEIS), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), INL - Plateforme Technologique Nanolyon (INL - Nanolyon), ANR-11-IDEX-0007,Avenir L.S.E.,PROJET AVENIR LYON SAINT-ETIENNE(2011)

المصدر: Nanotechnology
Nanotechnology, Institute of Physics, 2017, 28 (45), 455602 (8 p.). ⟨10.1088/1361-6528/aa8b5e⟩
HAL

مصطلحات موضوعية: Electron mobility, Materials science, Analytical chemistry, Bioengineering, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, Atomic layer deposition, Planar, 0103 physical sciences, General Materials Science, Electrical and Electronic Engineering, Thin film, 010302 applied physics, metallic nanoparticles, Condensed matter physics, Mechanical Engineering, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, shadow edge evaporation, General Chemistry, 021001 nanoscience & nanotechnology, Evaporation (deposition), Mechanics of Materials, atomic layer deposition, electrical properties, Electrode, 0210 nano-technology, Current density, Order of magnitude

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::3cdbace63b67f6f4697c33ba7f06b9a4
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/29039364

المؤلفون: Thierry Baron, Nicolas Baboux, Edgar A. A. Leon Perez, Abdelkader Souifi, L. Militaru, Khaled Ayadi, J. Moeyaert, Oumaima Abouzaid, Pierre-Vincent Guenery

المساهمون: Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Laboratoire des technologies de la microélectronique (LTM ), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019]), INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), INL - Plateforme Technologique Nanolyon (INL - Nanolyon), Clot, Marielle, Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Inl, Laboratoire INL UMR5270

المصدر: EUROSOI-ULIS, 2017
EUROSOI-ULIS, 2017, Jan 2017, Athens, Greece
EUROSOI-ULIS
EUROSOI-ULIS, 2017, pp.47-50

مصطلحات موضوعية: [PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS] Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics], Materials science, Fabrication, [SPI.OPTI] Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic, [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Oxide, Nanoparticle, chemistry.chemical_element, Nanotechnology, 02 engineering and technology, [SPI.MAT] Engineering Sciences [physics]/Materials, 01 natural sciences, law.invention, [PHYS] Physics [physics], [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, chemistry.chemical_compound, law, Hardware_GENERAL, 0103 physical sciences, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, 010302 applied physics, [PHYS]Physics [physics], [PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS]Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics], 021001 nanoscience & nanotechnology, Resistive random-access memory, Non-volatile memory, Capacitor, CMOS, chemistry, [SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic, 0210 nano-technology, Indium

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::89d845a023f3e5c7d065b6dd1393c4a6
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01701469

المؤلفون: Neila Hizem, Abdelkader Souifi, Slah Hlali, Abdelaali Farji, Adel Kalboussi, L. Militaru

المساهمون: Inl, Laboratoire INL UMR5270, INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Microélectronique et Instrumentations [Monastir], Faculté des Sciences de Monastir (FSM), Université de Monastir - University of Monastir (UM)-Université de Monastir - University of Monastir (UM)

المصدر: Journal of Alloys and Compounds
Journal of Alloys and Compounds, Elsevier, 2017, 713, pp.194

مصطلحات موضوعية: [PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS] Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics], [SPI.OPTI] Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic, [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Analytical chemistry, chemistry.chemical_element, 02 engineering and technology, Dielectric, Conductivity, [SPI.MAT] Engineering Sciences [physics]/Materials, 01 natural sciences, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, [PHYS] Physics [physics], Electrical resistivity and conductivity, 0103 physical sciences, Materials Chemistry, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, 010302 applied physics, [PHYS]Physics [physics], [PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS]Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics], Mechanical Engineering, Metals and Alloys, Biasing, Atmospheric temperature range, 021001 nanoscience & nanotechnology, Arrhenius plot, chemistry, Mechanics of Materials, [SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic, Dielectric loss, 0210 nano-technology, Tin

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::997e4894b07828e2deafbc1f8d2abadd
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01701530