-
1
المؤلفون: K. Fischer, Pulkit Jain, Sell Bernhard, P. Plekhanov, Swaminathan Sivakumar, S. Rajamani, R. James, Mark Y. Liu, C. Kenyon, L. Neiberg, Pete Smith, J. Wiedemer, M. Haran, M. Prince, Kevin Zhang, A. Bowonder, S. Morarka, R. Mehandru, B. Song, M. Agostinelli, Q. Fu, Y. Luo, W. Han, M. Heckscher, R. Grover, R. Patel, V. Chikarmane, S. Akbar, S. Chouksey, P. Patel, D. Hanken, I. Jin, L. Pipes, C. Parker, J. Sandford, M. Giles, Paul A. Packan, Tahir Ghani, A. Paliwal, E. Haralson, M. Bost, K. Tone, Sanjay Natarajan, M. Yang, Eric Karl, Hei Kam, R. Jhaveri, R. Heussner, T. Troeger, A. Dasgupta, S. Govindaraju, C. Pelto
المصدر: 2014 IEEE International Electron Devices Meeting.
مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, Doping, Transistor, Sram cell, Fin width, Nanotechnology, Strained silicon, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, law.invention, law, Fin height, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Multiple patterning, Optoelectronics, business, Metal gate
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6a3dec100c56e7fcbb7cfef517ecf3b6
https://doi.org/10.1109/iedm.2014.7046976 -
2
المؤلفون: Gerald Stranzinger, P. Steffen, Ruedi Fries, James E. Womack, D. J. S. Hetzel, S. Solinas Toldo, William Barendse, H. L. Neiberg
المصدر: Mammalian Genome. 4:720-727
مصطلحات موضوعية: Genetic Markers, Genetics, Polymorphism, Genetic, Base Sequence, medicine.diagnostic_test, Molecular Sequence Data, Chromosome Mapping, Chromosome, DNA, Satellite, Hybrid Cells, Biology, Cosmids, Subtelomere, Genetic marker, Genetic linkage, medicine, Cosmid, Animals, Microsatellite, Cattle, Cloning, Molecular, In Situ Hybridization, Fluorescence in situ hybridization, Synteny
-
3
المؤلفون: J. Seiple, L. Neiberg, R. Heussner, W. Han, S. Lodha, Abhishek Sharma, T. Troeger, Paul A. Packan, Oleg Golonzka, Swaminathan Sivakumar, B. Mattis, Mark Armstrong, Daniel B. Bergstrom, Tahir Ghani, Kevin Zhang, K. Dev, Anand Portland Murthy, J. Neirynck, Jun He, C. Kenyon, Cory E. Weber, G. Ding, L. Pipes, H. Deshpande, S. Pae, Y. Luo, J. Jopling, A. St. Amour, Robert James, Mark Y. Liu, J. Sebastian, Sanjay Natarajan, B. Song, Sell Bernhard, S. Akbar, Mark R. Brazier, C. Parker, S-H. Lee, K. Tone
المصدر: 2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
مصطلحات موضوعية: Random access memory, Engineering, business.industry, Transistor, Sram cell, Electrical engineering, PMOS logic, law.invention, law, Logic gate, Metal gate, business, NMOS logic, High-κ dielectric
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e255d01f1b0cb0a53df1287b98fb1131
https://doi.org/10.1109/iedm.2009.5424253 -
4
المؤلفون: S. Lodha, J. Seiple, T. Troeger, S. Pae, G. Ding, Tahir Ghani, I. Jin, L. Pipes, C.-H. Chang, Ruth A. Brain, Cory E. Weber, Jun He, Kevin Zhang, Paul A. Packan, Robert James, R. Heussner, Seung Hwan Lee, S. Klopcic, W. Han, Anand Portland Murthy, Michael A. Childs, K. Dev, J. Neirynck, Mark Y. Liu, J. Sebastian, B. McFadden, Oleg Golonzka, Swaminathan Sivakumar, V. Chikarmane, C. Pelto, H. Deshpande, Sanjay Natarajan, Mark Armstrong, M. Yang, L. Neiberg, Mark R. Brazier, B. Song, Yeoh Andrew W, C. Parker, C. Kenyon, M. Bost, K. Tone, Sell Bernhard
المصدر: 2008 IEEE International Electron Devices Meeting.
مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, Gate dielectric, Transistor, Strained silicon, Nanotechnology, PMOS logic, law.invention, law, Logic gate, Optoelectronics, business, NMOS logic, Immersion lithography, High-κ dielectric
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0e61e7413da3a7648aaa6f2eabc4f37c
https://doi.org/10.1109/iedm.2008.4796777 -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.