يعرض 1 - 10 نتائج من 285 نتيجة بحث عن '"Lagos, D."', وقت الاستعلام: 1.74s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs IEEE Trans. Circuits Syst. II Circuits and Systems II: Express Briefs, IEEE Transactions on. 70(8):2994-2998 Aug, 2023

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Power and Energy Magazine IEEE Power and Energy Mag. Power and Energy Magazine, IEEE. 19(3):20-35 Jun, 2021

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Electrification Magazine IEEE Electrific. Mag. Electrification Magazine, IEEE. 8(4):46-54 Dec, 2020

  4. 4
  5. 5
  6. 6
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Smart Grid IEEE Trans. Smart Grid Smart Grid, IEEE Transactions on. 10(1):248-256 Jan, 2019

  7. 7
    كتاب إلكتروني

    المؤلفون: Pellegrino, L.Aff4, Pala, D.Aff5, Bionda, E.Aff4, Rajkumar, V. S.Aff6, Bhandia, R.Aff6, Syed, M. H.Aff7, Guillo-Sansano, E.Aff7, Jimeno, J.Aff8, Merino, J.Aff8, Lagos, D.Aff9, Maniatopoulos, M.Aff9, Kotsampopoulos, P.Aff9, Akroud, N.Aff10, Gehrke, O.Aff11, Heussen, K.Aff11, Tran, Q. T.Aff12, Aff13, Nguyen, V. H.Aff12, Aff13

    المساهمون: Strasser, Thomas I., editorAff1, de Jong, Erik C. W., editorAff2, Sosnina, Maria, editorAff3

    المصدر: European Guide to Power System Testing : The ERIGrid Holistic Approach for Evaluating Complex Smart Grid Configurations. :67-86

  8. 8
    كتاب إلكتروني

    المؤلفون: Maki, K.Aff4, Kulmala, A.Aff4, Heussen, K.Aff5, Gehrke, O.Aff5, Rikos, E.Aff6, Merino, J.Aff7, Rossi, M.Aff8, Pellegrino, L.Aff8, Sandroni, C.Aff8, Degefa, M. Z.Aff9, Taxt, H.Aff9, Lagos, D.Aff10, Kotsampopoulos, P.Aff10

    المساهمون: Strasser, Thomas I., editorAff1, de Jong, Erik C. W., editorAff2, Sosnina, Maria, editorAff3

    المصدر: European Guide to Power System Testing : The ERIGrid Holistic Approach for Evaluating Complex Smart Grid Configurations. :87-104

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Power and Energy Technology Systems Journal IEEE Power Energy Technol. Syst. J. Power and Energy Technology Systems Journal, IEEE. 5(3):94-103 Sep, 2018

  10. 10