يعرض 1 - 10 نتائج من 55 نتيجة بحث عن '"Lapadula, V."', وقت الاستعلام: 0.96s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر

    المصدر: 2020 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 & IoT Metrology for Industry 4.0 & IoT, 2020 IEEE International Workshop on. :507-510 Jun, 2020

    Relation: 2020 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 & IoT (MetroInd4.0&IoT)

  2. 2
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  3. 3
  4. 4
  5. 5
    دورية أكاديمية
  6. 6
  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  8. 8
    دورية أكاديمية
  9. 9
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  10. 10