-
1مؤتمر
المؤلفون: Goldberg, C., Park, S.H., Kim, B.Y., Law, S.B., Hamieh, B., Jung, J., Kim, B.H., Rhee, S.H., Oh, M., Mobley, M., Laffosse, E., Kim, A., Thomas, A., Malinge, P., Fryxell, T., Lim, K.J., Park, I.S., Bahierathan, B., Wu, F., Erenturk, B., Jeon, W.C., Choi, H.C., Park, Y.J., Kim, H., Chen, T.Q., Thibaut, S., Niu, C., Zhang, J., Filippi, R., Kaltalioglu, E., Achanta, R., Wang, P.-C., Yang, H., Geronimi, J.P., Pagette, F., Chauhan, V., Ogino, A., Srivastava, R., Koshy, R., Baumann, F., Simon, A., Nag, J., Cheng, T., Fitzsimmons, J., Tseng, W., Lin, Y., Sun, Z., Bolom, T., Ko, T.-M., Clevenger, L., Kim, J, Sudijono, J., Sampson, R.
المصدر: 2013 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology (VLSIT), 2013 Symposium on. :T202-T203 Jun, 2013
Relation: 2013 Symposium on VLSI Technology
-
2دورية أكاديمية
المصدر: In Applied Surface Science 15 November 2006 253(2):530-534
-
3دورية أكاديمية
المصدر: In Thin Solid Films 2006 504(1):218-222
-
4دورية أكاديمية
المصدر: In Surface & Coatings Technology 2005 198(1):291-295
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Chong, S.P., Ee, Y.C., Chen, Z. *, Law, S.B.
المصدر: In Surface & Coatings Technology 2005 198(1):287-290
-
6مؤتمر
المؤلفون: Chen, F., Shinosky, M., Li, B., Christiansen, C., Lee, T., Aitken, J., Badami, D., Huang, E., Bonilla, G., Ko, T., Kane, T., Wang, Y., Zaitz, M., Nicholson, L., Angyal, M., Truong, C., Chen, X., Yang, G., Law, S.B., Tang, T.J.
المصدر: 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2010, p566-573, 8p
-
7مؤتمر
المؤلفون: Bao, J., Lustig, N., Engbrecht, E., Gill, J., Filippi, R., Lee, T.C., Chanda, K., Kioussis, D., Lisi, A., Cheng, T., Law, S.B., Simon, A., Flaitz, P., Choi, J., Tseng, W., Zielinski, E., Gates, S.M., Grill, A., Nguyen, S., Shobha, H.
المصدر: Interconnect Technology Conference (IITC), 2010 International; 2010, p1-3, 3p
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.