المؤلفون: Hoexum, A. M., Le Fèbre, A. J., Martin Herman Siekman, Thijs Bolhuis, Groenland, J. P. J., Gijs J.M. Krijnen, Leon Abelmann

المصدر: MESA+ Day 2006
University of Twente Research Information (Pure Portal)

مصطلحات موضوعية: METIS-233151

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0d04f9482498a5af9554fb7eaade5d21
https://research.utwente.nl/en/publications/taking-probe-recording-one-step-further(9d25240e-b9ee-4dfa-9fdf-43c5cc7eab81).html

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Van Den Bos, A. G., Le Fèbre, A. J., Saito, H., Ramstock, K., Siekman, M. H., Abelmann, L., Lodder, J. C.

المصدر: AIP Conference Proceedings; 2003, Vol. 696 Issue 1, p320-327, 8p

مصطلحات موضوعية: SCANNING tunneling microscopy, MAGNETIC force microscopy, SCIENTIFIC apparatus & instruments, ELECTROCHEMISTRY, MATHEMATICAL physics

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Le Fèbre, A. J., Abelmann, L., Lodder, J. C.

المصدر: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; Mar/Apr2008, Vol. 26 Issue 2, p724-729, 6p, 4 Diagrams, 5 Graphs

مصطلحات موضوعية: FIELD emission, ATOMIC force microscopy, SILICON, ELECTRODES, ELECTRON emission