يعرض 1 - 10 نتائج من 38 نتيجة بحث عن '"Le Goic, G."', وقت الاستعلام: 0.91s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر

    المصدر: 2019 15th International Conference on Signal-Image Technology & Internet-Based Systems (SITIS) Signal-Image Technology & Internet-Based Systems (SITIS), 2019 15th International Conference on. :746-753 Nov, 2019

    Relation: 2019 15th International Conference on Signal-Image Technology & Internet-Based Systems (SITIS)

  2. 2
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  3. 3
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  4. 4
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  5. 5
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  6. 6

    المساهمون: Institut de Physique de Rennes (IPR), Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Imagerie et Vision Artificielle [Dijon] (ImViA), Université de Bourgogne (UB), Equipe CORES [ImViA - EA7535] (CORES), Université de Bourgogne (UB)-Université de Bourgogne (UB), Laboratoire SYstèmes et Matériaux pour la MEcatronique (SYMME), Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry]), Université de Rennes (UR)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut de Physique de Rennes ( IPR ), Université de Rennes 1 ( UR1 ), Université de Rennes ( UNIV-RENNES ) -Université de Rennes ( UNIV-RENNES ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ), Laboratoire Electronique, Informatique et Image ( Le2i ), Université de Bourgogne ( UB ) -AgroSup Dijon - Institut National Supérieur des Sciences Agronomiques, de l'Alimentation et de l'Environnement-Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ), Laboratoire SYstèmes et Matériaux pour la MEcatronique ( SYMME ), Université Savoie Mont Blanc ( USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry] ), Brient, Antoine

    المصدر: 15th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces
    15th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Mar 2015, Charlotte, United States
    15th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Mar 2015, Charlotte, United States. 2015
    HAL

  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  8. 8
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  9. 9
    دورية أكاديمية
  10. 10
    دورية أكاديمية