المؤلفون: You, Hyunseo, An, Jehyun, Nam, Kihoon, Kang, Bohyeon, Park, Jongseo, Lee, Namhyun, Lee, Seonhaeng, Baek, Rock-Hyun

المصدر: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023 7th IEEE. :1-3 Mar, 2023

Relation: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)

المؤلفون: Jin, Jungho, Han, Youngbong, Kown, Byungjin, Jang, Iloh, Lee, Namhyun, Lee, Seungbae, Hwang, Yuchul, Kim, Hoosung, Pae, Sangwoo

المصدر: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022 IEEE International Symposium on the. :1-4 Jul, 2022

Relation: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)

المؤلفون: Kim, Gang-Jun, Yoon, Moonjee, Kim, SungHwan, Eo, Myeongkyu, Kim, Shinhyung, You, Taehun, Lee, Namhyun, Kim, Kijin, Pae, Sangwoo

المصدر: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021 IEEE International. :1-4 Mar, 2021

Relation: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Kim, Jongkyun, Lee, Namhyun, Kim, Gang-Jun, Lee, Young-Yun, Seok, Jungeun, Lee, Yunsung

المصدر: In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:183-185

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Choi, Sungju, Yang, Ga Won, Lee, Sangwon, Park, Jingyu, Kim, Changwook, Park, Jun, Choi, Hyun-Seok, Lee, Namhyun, Kim, Gang-Jun, Kim, Yoon, Kang, Myounggon, Kim, Changhyun, Bae, Jong-Ho, Kim, Dae Hwan

المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices; January 2023, Vol. 70 Issue: 1 p48-52, 5p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.