-
1مؤتمر
المؤلفون: You, Hyunseo, An, Jehyun, Nam, Kihoon, Kang, Bohyeon, Park, Jongseo, Lee, Namhyun, Lee, Seonhaeng, Baek, Rock-Hyun
المصدر: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023 7th IEEE. :1-3 Mar, 2023
Relation: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)
-
2مؤتمر
المؤلفون: Jin, Jungho, Han, Youngbong, Kown, Byungjin, Jang, Iloh, Lee, Namhyun, Lee, Seungbae, Hwang, Yuchul, Kim, Hoosung, Pae, Sangwoo
المصدر: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022 IEEE International Symposium on the. :1-4 Jul, 2022
Relation: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
-
3مؤتمر
المؤلفون: Kim, Gang-Jun, Yoon, Moonjee, Kim, SungHwan, Eo, Myeongkyu, Kim, Shinhyung, You, Taehun, Lee, Namhyun, Kim, Kijin, Pae, Sangwoo
المصدر: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021 IEEE International. :1-4 Mar, 2021
Relation: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
-
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Kim, Jongkyun, Lee, Namhyun, Kim, Gang-Jun, Lee, Young-Yun, Seok, Jungeun, Lee, Yunsung
المصدر: In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:183-185
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية
المؤلفون: Choi, Sungju, Yang, Ga Won, Lee, Sangwon, Park, Jingyu, Kim, Changwook, Park, Jun, Choi, Hyun-Seok, Lee, Namhyun, Kim, Gang-Jun, Kim, Yoon, Kang, Myounggon, Kim, Changhyun, Bae, Jong-Ho, Kim, Dae Hwan
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices; January 2023, Vol. 70 Issue: 1 p48-52, 5p
-
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.