يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"Lee, Win-How"', وقت الاستعلام: 0.73s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Hausdorff distance based PCB inspection system with defect classification.

    المؤلفون: Chen, Chun-Jen, Lai, Shang-Hong, Lee, Win-How, Lin, Chun-Yu, Ku, Terry, Chen, Chiu-Hui, Chung, Yueh-Ching

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2005 Part 2, Issue 1, p600008-600008-12, 12p

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء