-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Behbahani, Farbod, Karimi, Ali, Tan, Weeguan, Roithmeier, Andreas, Leete, John C., Hoshino, Koichi, Abidi, Asad A.
المصدر: In Microelectronic Engineering 2000 54(1):73-83
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Behbahani, Farbod, Leete, John C., Kishigami, Yoji, Roithmeier, Andreas, Hoshino, Koichi, Abidi, Asad A.
المصدر: In Microelectronic Engineering 2000 54(1):63-71
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Afsahi, Ali, Rael, Jacob J., Behzad, Arya, Hung-Ming (Ed) Chien, Pan, Michael, Au, Stephen, Ojo, Adedayo, Lee, C. Paul, Anand, Seema Butala, Chien, Kevin, Wu, Stephen, Roufoogaran, Rozi (Razieh), Zolfaghari, Alireza, Leete, John C., Tran, Long, Carter, Keith A., Nariman, Mohammad, Wai-Ki Yeung, Keno, Morton, Walter, Gonikberg, Mark
المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits; May2008, Vol. 43 Issue 5, p1101-1118, 18p, 40 Black and White Photographs, 11 Diagrams, 2 Charts, 11 Graphs