المؤلفون: Ruan, T. Du A.W., Jie, P. Li B.R.

المصدر: 2014 International Symposium on Integrated Circuits (ISIC) Integrated Circuits (ISIC), 2014 14th International Symposium on. :592-595 Dec, 2014

Relation: 2014 International Symposium on Integrated Circuits (ISIC)

المؤلفون: Zhang, J.L., Lu, Y.D., Li, B.R., Meng, J.L.

المصدر: Proceedings of IEEE 43rd Electronic Components and Technology Conference (ECTC '93) Electronic components and technology Electronic Components and Technology Conference, 1993. Proceedings., 43rd. :1095-1098 1993

Relation: Proceedings of IEEE 43rd Electronic Components and Technology Conference (ECTC '93)

المؤلفون: Wei, Z.S., Luo, Y.W., Li, B.R., Chen, Z.Y., Ye, Q.H., Huang, Q.R., He, J.C.

المصدر: In Journal of Industrial and Engineering Chemistry 25 April 2015 24:315-321

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Gao, X., Li, B.R., Lu, Y.D., Zhang, J.L., Jin, Q.L., Pan, W.Y.

المصدر: Proceedings., 39th Electronic Components Conference Electronic Components Conference, 1989. Proceedings., 39th. :905-908 1989

Relation: Proceedings 39th Electronic Components Conference

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: P. Li B.R. Jie, T. Du A.W. Ruan

المصدر: ISIC

مصطلحات موضوعية: Boundary scan, Software, Built-in self-test, Computer science, business.industry, Gate array, Embedded system, Overhead (computing), Field-programmable gate array, Fault (power engineering), Bitstream, business

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a46fc0afdad3caca88c4991f8b2c50d4
https://doi.org/10.1109/isicir.2014.7029437

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Hu, L.H., Li, B.R., Liao, Z., Du, T.T., Li, Z.S.

المصدر: In Pancreatology January 2016 16(1) Supplement:S8-S8