-
1مؤتمر
المؤلفون: Lee, Sheng Cheng, Liang, Yu-Teng, Tsai, Hsing-Yen, Huang, Jia-Rui, Chen, Peng-Chu, Liu, Chao-Heng, Shih, Yu-Tse, Chen, Ke-Horng, Zheng, Kuo-Lin, Lin, Ying-Hsi, Lin, Shian-Ru, Tsai, Tsung-Yen
المصدر: ESSCIRC 2023- IEEE 49th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC) Solid State Circuits Conference (ESSCIRC), ESSCIRC 2023- IEEE 49th European. :317-320 Sep, 2023
Relation: ESSCIRC 2023- IEEE 49th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC)
-
2كتاب إلكتروني
المؤلفون: Liang, Yu-TengAff23, Aff24, Chiou, Yih-ChihAff23
المساهمون: Hutchison, David, Series editorAff1, Kanade, Takeo, Series editorAff2, Kittler, Josef, Series editorAff3, Kleinberg, Jon M., Series editorAff4, Mattern, Friedemann, Series editorAff5, Mitchell, John C., Series editorAff6, Naor, Moni, Series editorAff7, Nierstrasz, Oscar, Series editorAff8, Pandu Rangan, C., Series editorAff9, Steffen, Bernhard, Series editorAff10, Sudan, Madhu, Series editorAff11, Terzopoulos, Demetri, Series editorAff12, Tygar, Doug, Series editorAff13, Vardi, Moshe Y., Series editorAff14, Weikum, Gerhard, Series editorAff15, Goebel, Randy, editorAff16, Siekmann, Jörg, editorAff17, Wahlster, Wolfgang, editorAff18, Chien, Been-Chian, editorAff19, Hong, Tzung-Pei, editorAff20, Chen, Shyi-Ming, editorAff21, Ali, Moonis, editorAff22
المصدر: Next-Generation Applied Intelligence : 22nd International Conference on Industrial, Engineering and Other Applications of Applied Intelligent Systems, IEA/AIE 2009, Tainan, Taiwan, June 24-27, 2009. Proceedings. 5579:711-720
-
3كتاب إلكتروني
المؤلفون: Liang, Yu-TengAff23, Aff24, Chiou, Yih-ChihAff23
المساهمون: Hutchison, David, Series editorAff1, Kanade, Takeo, Series editorAff2, Kittler, Josef, Series editorAff3, Kleinberg, Jon M., Series editorAff4, Mattern, Friedemann, Series editorAff5, Mitchell, John C., Series editorAff6, Naor, Moni, Series editorAff7, Nierstrasz, Oscar, Series editorAff8, Pandu Rangan, C., Series editorAff9, Steffen, Bernhard, Series editorAff10, Sudan, Madhu, Series editorAff11, Terzopoulos, Demetri, Series editorAff12, Tygar, Doug, Series editorAff13, Vardi, Moshe Y., Series editorAff14, Weikum, Gerhard, Series editorAff15, Goebel, Randy, editorAff16, Siekmann, Jörg, editorAff17, Wahlster, Wolfgang, editorAff18, Chien, Been-Chian, editorAff19, Hong, Tzung-Pei, editorAff20, Chen, Shyi-Ming, editorAff21, Ali, Moonis, editorAff22
المصدر: Next-Generation Applied Intelligence : 22nd International Conference on Industrial, Engineering and Other Applications of Applied Intelligent Systems, IEA/AIE 2009, Tainan, Taiwan, June 24-27, 2009. Proceedings. 5579:691-700
-
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.