المؤلفون: Elsherbini, A., Jun, K., Liff, S., Talukdar, T., Bielefeld, J., Li, W., Vreeland, R., Niazi, H., Rawlings, B., Ajayi, T., Tsunoda, N., Hoff, T., Woods, C., Pasdast, G., Tiagaraj, S., Kabir, E., Shi, Y., Brezinski, W., Jordan, R., Ng, J., Brun, X., Krisnatreya, B., Liu, P., Zhang, B., Qian, Z., Goel, M., Swan, J., Yin, G., Pelto, C., Torres, J., Fischer, P.

المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2022 International. :27.3.1-27.3.4 Dec, 2022

Relation: 2022 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

المؤلفون: Elsherbini, A. A., Liff, S. M., Swan, J. M.

المصدر: 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2019 IEEE International. :19.4.1-19.4.4 Dec, 2019

Relation: 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

المؤلفون: Liff, S. H.

المصدر: IEEE Transactions on Engineering Management IEEE Trans. Eng. Manage. Engineering Management, IEEE Transactions on. EM-10(4):159-165 Dec, 1963

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Schröder, Henning, Chen, Ray T., Glebov, Alexei L., Mohammed, E., Tseng, R., Rawlings, B., Liff, S., Ban, I., McFarlane, W., Reshotko, M., Chang, P.

المصدر: Proceedings of SPIE; March 2014, Vol. 8991 Issue: 1 p89910G-89910G-8, 809199p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.