المؤلفون: Long, LT, Long, LT, Neureuther, AR, Naulleau, PP

المصدر: Journal of Micro/Nanopatterning, Materials and Metrology; vol 20, iss 3; 1932-5150

مصطلحات الفهرس: photoresist, stochastics, acid blur, Nanoscience & Nanotechnology, Optical Physics, Electrical and Electronic Engineering, article

URL: https://escholarship.org/uc/item/5d17b1sr
https://escholarship.org/

المؤلفون: Long, Lt. Col. David, Seering, Warren, Rebentisch, Eric

مصطلحات الفهرس: commonality, functinoal decomposition, system architecture, taxonomy, lean, Technical Report, Other

URL: http://hdl.handle.net/1721.1/84086

المؤلفون: Long, Lt. Col. David

مصطلحات الفهرس: complex systems, commonality, unmanned aircraft systems (UAS), Learning Object, Other

URL: http://hdl.handle.net/1721.1/83889

المؤلفون: Long, Lt. Col. Dave

مصطلحات الفهرس: modularity, system architecture, unmanned aircraft systems (UAS), value, Learning Object, Other

URL: http://hdl.handle.net/1721.1/83955

المؤلفون: Long, Lt. Col. David

مصطلحات الفهرس: commonality, unmanned aircraft systems (UAS), Learning Object, Other

URL: http://hdl.handle.net/1721.1/83932

المؤلفون: Long, Lt. Col. Dave

مصطلحات الفهرس: unmanned aircraft systems (UAS), modular, commonality, Learning Object, Other

URL: http://hdl.handle.net/1721.1/83944

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Michael T. Long, Lt. Cdr., Johnson, Laverne C.

المصدر: Neurology; Jul1968, Vol. 18 Issue 7, p714-716, 3p

المؤلفون: Long, Lt. Cdr. Michael T., Johnson, Laverne C.

المصدر: Neurology (Ovid); July 1968, Vol. 18 Issue: 7 p714-716, 3p