-
1دورية أكاديمية
-
2دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 12:105346-105353 2024
-
3مؤتمر
المؤلفون: Zhang, Yin, Wang, Huaisheng, Wang, Mingxiang, Zhang, Dongli, Lv, Nannan, Shan, Qi
المصدر: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023 IEEE International Symposium on the. :1-4 Jul, 2023
Relation: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
-
4دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Industrial Electronics IEEE Trans. Ind. Electron. Industrial Electronics, IEEE Transactions on. 70(8):8588-8597 Aug, 2023
-
5دورية أكاديمية
-
6دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 11:573-578 2023
-
7دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 43(11):1890-1893 Nov, 2022
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Lee, J., Kang, C.H., Yoo, J.S., Hwang, H.W., Hong, S.K., Ha, Y.M., Choi, H.C., Ju, B.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(9):4950-4957 Sep, 2022
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Zheng, Y., Chen, P., Chang, T., Tsai, T., Zhou, K., Tu, Y., Wang, Y., Wu, C., Chen, Y., Sun, P., Chen, J., Tu, H., Hung, Y., Lin, Y., Ciou, F., Shih, Y., Huang, H.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(5):2423-2429 May, 2022
-
10