المؤلفون: Shevchuk, V.N., Luchechko, A.P., Usatenko, Yu.N., Kayun, I.V., Sugak, D.Yu.

المصدر: 2012 IEEE International Conference on Oxide Materials for Electronic Engineering (OMEE) Oxide Materials for Electronic Engineering (OMEE), 2012 IEEE International Conference on. :223-224 Sep, 2012

Relation: 2012 IEEE International Conference on Oxide Materials for Electronic Engineering (OMEE)

المؤلفون: Sugak, D.Yu., Kopko, B.M., Haiduchok, V.G., Syvorotka, I.I., Solskii, I.M., Luchechko, A.P., Vakiv, M.M., Buryy, O.A.

المصدر: 2012 IEEE International Conference on Oxide Materials for Electronic Engineering (OMEE) Oxide Materials for Electronic Engineering (OMEE), 2012 IEEE International Conference on. :217-218 Sep, 2012

Relation: 2012 IEEE International Conference on Oxide Materials for Electronic Engineering (OMEE)

المؤلفون: Zhydachevskii, Ya., Syvorotka, I.I., Vasylechko, L., Sugak, D., Borshchyshyn, I.D., Luchechko, A.P., Vakhula, Ya.I., Ubizskii, S.B., Vakiv, M.M., Suchocki, A.

المصدر: In Optical Materials October 2012 34(12):1984-1989

المؤلفون: Gorobets, Yu.N., Kosmyna, M.B., Luchechko, A.P., Nazarenko, B.P., Puzikov, V.M., Shekhovtsov, A.N., Sugak, D.Yu.

المصدر: In Journal of Crystal Growth 1 March 2011 318(1):687-690

المؤلفون: Zakharko, Ya.M., Luchechko, A.P., Ubizskii, S.B., Syvorotka, I.I., Martynyuk, N.V., Syvorotka, I.M.

المصدر: In Radiation Measurements 2007 42(4):843-846

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Luchechko, A.P., Zakharko, Ya.M., Solsky, I.M., Pashkovsky, M.V., Zorenko, Yu.V.

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1456::d9bea29c2fff50a3d2025c824a4cdda5
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136906

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.