-
1مؤتمر
المؤلفون: Wong, S. F., Lin, B., Luo, Z. C.
المصدر: 2017 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM) Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM), 2017 IEEE International Conference on. :240-244 Dec, 2017
Relation: 2017 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM)
-
2مؤتمر
المؤلفون: Wong, S. F., Lin, B., Luo, Z. C., Cong, Y. F.
المصدر: 2016 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM) Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM), 2016 IEEE International Conference on. :233-237 Dec, 2016
Relation: 2016 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM)
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Ning, Q.-Y., Wang, S.-K., Luo, A.-P., Lin, Z.-B., Luo, Z.-C., Xu, W.-C.
المصدر: IEEE Photonics Journal IEEE Photonics J. Photonics Journal, IEEE. 4(5):1647-1652 Oct, 2012
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Luo, Z.-C., Cao, W.-J., Luo, A.-P., Xu, W.-C.
المصدر: Journal of Lightwave Technology J. Lightwave Technol. Lightwave Technology, Journal of. 30(12):1857-1862 Jun, 2012
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Luo, A.-P., Luo, Z.-C., Xu, W.-C.
المصدر: IEEE Photonics Journal IEEE Photonics J. Photonics Journal, IEEE. 3(2):197-202 Apr, 2011
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Luo, Z.-C., Luo, A.-P., Xu, W.-C.
المصدر: IEEE Photonics Journal IEEE Photonics J. Photonics Journal, IEEE. 3(1):64-70 Feb, 2011
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Luo, Z.-C., Luo, A.-P., Xu, W.-C., Yin, H.-S., Liu, J.-R., Ye, Q., Fang, Z.-J.
المصدر: IEEE Photonics Journal IEEE Photonics J. Photonics Journal, IEEE. 2(4):571-577 Aug, 2010
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Luo, Z. C., Wang, H. P.Aff1
المصدر: Metallurgical and Materials Transactions A. 51(3):1242-1253
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Luo, Z.-C., Luo, A.-P., Xu, W.-C.
المصدر: IEEE Photonics Technology Letters IEEE Photon. Technol. Lett. Photonics Technology Letters, IEEE. 21(15):1066-1068 Aug, 2009