-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: G. Forzieri, M. Pecchi, M. Girardello, A. Mauri, M. Klaus, C. Nikolov, M. Rüetschi, B. Gardiner, J. Tomaštík, D. Small, C. Nistor, D. Jonikavicius, J. Spinoni, L. Feyen, F. Giannetti, R. Comino, A. Wolynski, F. Pirotti, F. Maistrelli, I. Savulescu, S. Wurpillot-Lucas, S. Karlsson, K. Zieba-Kulawik, P. Strejczek-Jazwinska, M. Mokroš, S. Franz, L. Krejci, I. Haidu, M. Nilsson, P. Wezyk, F. Catani, Y.-Y. Chen, S. Luyssaert, G. Chirici, A. Cescatti, P. S. A. Beck
المصدر: Earth System Science Data, Vol 12, Pp 257-276 (2020)
مصطلحات موضوعية: Environmental sciences, GE1-350, Geology, QE1-996.5
وصف الملف: electronic resource
-
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5
المؤلفون: M. Rüetschi, H.-J. Güntherodt, D. Möller, H. Haefke
المصدر: Surface and Interface Analysis. 27:525-529
مصطلحات موضوعية: Microscope, Chemistry, Analytical chemistry, Surfaces and Interfaces, General Chemistry, Plasma, Condensed Matter Physics, Molecular physics, Surfaces, Coatings and Films, law.invention, Electric discharge in gases, Physics::Plasma Physics, law, Microscopy, Electrode, Materials Chemistry, Plasma diagnostics, Spectroscopy, Quantum tunnelling
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::eef74da56e52d1efc2ce3a838f29d48b
https://doi.org/10.1002/(sici)1096-9918(199905/06)27:5/6<525::aid-sia518>3.0.co;2-h -
6
المؤلفون: J. Fünfschilling, H.-J. Güntherodt, M. Rüetschi
المصدر: Journal of Applied Physics. 80:3155-3161
مصطلحات موضوعية: chemistry.chemical_classification, Materials science, business.industry, General Physics and Astronomy, Polymer, Disclination, Optics, chemistry, Liquid crystal, Thin film, Composite material, business, Layer (electronics), Lithography, Refractive index, Polyimide
-
7
المؤلفون: Th. Jung, M. Rüetschi, Peter Reimann, H.-J. Güntherodt, Dario Anselmetti, H. R. Hidber, H. Haefke, H. Rudin, Udo D. Schwarz, Ernst Meyer, R. Lüthi, Hans Peter Lang, I. Parashikov, Jane Frommer, M Dreier, T. Richmond, A. Moser, Urs Staufer, Hans J. Hug, G. Gerth, U. Dammer, J. Funfschilling, R. Sum, L. Howald
المصدر: Scanning. 15:257-264
مصطلحات موضوعية: Scanning probe microscopy, Scanning Hall probe microscope, Materials science, Microscopy, Scanning ion-conductance microscopy, Scanning confocal electron microscopy, Nanotechnology, Scanning gate microscopy, Scanning capacitance microscopy, Instrumentation, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Vibrational analysis with scanning probe microscopy
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3f440e4a97ebb71de19cf8fb2dfa4de1
https://doi.org/10.1002/sca.4950150504 -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10
المؤلفون: J. Funfschilling, H.-J. Güntherodt, Peter Grutter, M. Rüetschi
المصدر: Science. 265:512-514
مصطلحات موضوعية: chemistry.chemical_classification, Multidisciplinary, Fabrication, Scanning electron microscope, business.industry, Polymer, Rubbing, Optics, chemistry, Liquid crystal, Optoelectronics, business, Anisotropy, Layer (electronics), Refractive index