-
1
المؤلفون: P.V. Thorat, M.L. Jadhav, K.B. Jhala
المصدر: International Journal of Current Microbiology and Applied Sciences. 6:3577-3589
مصطلحات موضوعية: Computer science, 040103 agronomy & agriculture, 0401 agriculture, forestry, and fisheries, 04 agricultural and veterinary sciences, Automotive engineering
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::87f926ebf7acafb6cbaf21367e2d7202
https://doi.org/10.20546/ijcmas.2017.611.420 -
2
المؤلفون: Pramod Mohnot, P.S. Shelake, M.L. Jadhav
المصدر: International Journal of Current Microbiology and Applied Sciences. 6:1163-1171
مصطلحات موضوعية: Agronomy, 021105 building & construction, 0211 other engineering and technologies, 020101 civil engineering, 02 engineering and technology, Seeder, 0201 civil engineering, Mathematics
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9a94e25febe6305c2f2d73766c75025c
https://doi.org/10.20546/ijcmas.2017.610.140 -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7
المؤلفون: R.N. Karekar, S.K. Kulkarni, M.L. Jadhav, S.D. Phadke, S.A. Gangal
المصدر: Proceedings. Japan IEMT Symposium, Sixth IEEE/CHMT International Electronic Manufacturing Technology Symposium.
مصطلحات موضوعية: Materials science, Chemical bond, X-ray photoelectron spectroscopy, chemistry, Photoemission spectroscopy, Ion plating, Analytical chemistry, chemistry.chemical_element, Reactivity (chemistry), Substrate (electronics), Adhesion, Copper
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b62b5385bcadf6469b3153bf540440f1
https://doi.org/10.1109/iemts.1989.76162 -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.