-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Curran, Brian W., Eisen, Lee E., Schwarz, Eric M., Mak, Pak-kin, Warnock, James, Meaney, Patrick J., Fee, Michael
المصدر: IEEE Micro Micro, IEEE. 31(2):26-40 Apr, 2011
-
2كتاب إلكتروني
المؤلفون: Lundin, PerAff1_3
المساهمون: Lundin, PerAffID1
المصدر: Computers in Swedish Society : Documenting Early Use and Trends. :59-95
-
3كتاب إلكتروني
المساهمون: Banks, Michael A.
المصدر: On the Way to the Web : The Secret History of the Internet and its Founders. :15-24
-
4
المؤلفون: Elisabetta Mori
المصدر: IEEE Annals of the History of Computing. 42:24-38
مصطلحات موضوعية: Engineering, Focus (computing), General Computer Science, business.industry, First language, 05 social sciences, 050905 science studies, Sign system, Visual arts, Visual language, History and Philosophy of Science, Industrial design, Mainframe computer, Semiotics, 0509 other social sciences, business, History of computing
-
5كتاب إلكتروني
المؤلفون: Bodkin, Ronald G.Aff2
المساهمون: Slottje, Daniel J., editorAff1
المصدر: Advances in Econometrics, Income Distribution and Scientific Methodology : Essays in Honor of Camilo Dagum. :41-60
-
6كتاب إلكتروني
المؤلفون: Ward, John, Cowley, PaulAff3
المساهمون: Lautenschlager, Michael, editorAff1, Reinke, Manfred, editorAff2
المصدر: Climate and Environmental Database Systems. 386:73-85
-
7كتاب إلكتروني
المؤلفون: Walter, DavidAff1, Kerridge, JonAff1
المساهمون: Goos, Gerhard, editor, Hartmanis, Juris, editor, Gentzsch, Wolfgang, editor, Harms, Uwe, editor
المصدر: High-Performance Computing and Networking : International Conference and Exhibition Munich, Germany, April 18–20, 1994 Proceedings, Volume I: Applications. 796:435-440
-
8كتاب إلكتروني
المؤلفون: Punter, P. H.
المساهمون: Piggott, J. R., editorAff1, Paterson, A., editorAff1
المصدر: Understanding Natural Flavors. :97-112
-
9كتاب إلكتروني
المؤلفون: Chandler, Alfred D., Jr
المساهمون: Thomson, Ross, editorAff1
المصدر: Learning and Technological Change. :24-39
-
10كتاب إلكتروني
المؤلفون: Landzberg, Abraham H.Aff1
المساهمون: Landzberg, Abraham H., editor
المصدر: Microelectronics Manufacturing Diagnostics Handbook. :1-8