-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Segar, D. E.Aff1, Aff2, Maldonado, J. R.Aff1, Aff2, Brown, C. G.Aff1, Aff2, Law, I. H.Aff1, Aff2
المصدر: Pediatric Cardiology. 39(7):1484-1488
-
2مؤتمر
المؤلفون: Maydan, D., Coquin, G. A., Maldonado, J. R., Somekh, S., Lou, D. Y., Taylor, G. N.
المصدر: 1974 International Electron Devices Meeting (IEDM) IEDM Tech. Dig. Electron Devices Meeting (IEDM), 1974 International. :18-20 Dec, 1974
Relation: 1974 International Electron Devices Meeting (IEDM)
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Meitzler, A. H., Maldonado, J. R., Fraser, D. B.
المصدر: The Bell System Technical Journal Bell Syst. Tech. J. Bell System Technical Journal, The. 49(6):953-967 Aug, 1970
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Maldonado, J. R., Angelopoulos, M., Huang, W., Brainard, R. L., Guevremont, J. M., Tan, Z.
المصدر: MRS Online Proceedings Library. 705(1)
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Celliers, P., Da Silva, L. B., Dane, C. B., Mrowka, S., Norton, M., Harder, J., Hackel, L., Matthews, D. L., Fiedorowicz, H., Bartnik, A., Maldonado, J. R., Abate, J. A.
المصدر: Journal of Applied Physics; 6/1/1996, Vol. 79 Issue 11, p8258, 11p, 3 Diagrams, 13 Graphs
مصطلحات موضوعية: LASER beams, DIRECT energy conversion
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Reisman, A., Williams, C. K., Maldonado, J. R.
المصدر: Journal of Applied Physics; 8/1/1987, Vol. 62 Issue 3, p868, 7p
مصطلحات موضوعية: THIN films, SILICA
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Fraser, D. B., Maldonado, J. R.
المصدر: Journal of Applied Physics; Apr1970, Vol. 41 Issue 5, p2172-2176, 5p
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9مؤتمر
المؤلفون: Gaeta, Celestino J., Rieger, Harry, Turcu, I. C. Edmond, Forber, Richard A., Cassidy, Kelly L., Campeau, S. M., Powers, Michael F., Maldonado, J. R., Morris, James H., Foster, Richard M., Smith, Henry I., Lim, M. H.
المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2002, Issue 1, p818-833, 16p
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Machuca, Francisco, Liu, Zhi, Maldonado, J. R., Coyle, S. T., Pianetta, P., Pease, R. F. W.
المصدر: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2004, Vol. 22 Issue 6, p3565-3569, 5p