-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Gao, Z., Hu, M., Baert, R., Chehab, B., Swenton, J., Malagi, S., Huisken, J., Goossens, K., Marinissen, E.J.
المصدر: IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 41(2):56-64 Apr, 2024
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Wu, L., Rao, S., Taouil, M., Marinissen, E.J., Kar, G.S., Hamdioui, S.
المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 41(11):4991-5004 Nov, 2022
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Monta, K., Katselas, L., Fodor, F., Miki, T., Hatzopoulos, A., Nagata, M., Marinissen, E.J.
المصدر: IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 39(5):79-87 Oct, 2022
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Wu, L., Rao, S., Taouil, M., Marinissen, E.J., Kar, G.S., Hamdioui, S.
المصدر: IEEE Transactions on Computers IEEE Trans. Comput. Computers, IEEE Transactions on. 71(9):2219-2233 Sep, 2022
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Cao, X., Jiao, H., Marinissen, E.J.
المصدر: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs IEEE Trans. Circuits Syst. II Circuits and Systems II: Express Briefs, IEEE Transactions on. 69(2):554-558 Feb, 2022
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Cron, A., Marinissen, E.J., Mariani, R.
المصدر: Computer. 54(11):88-94 Nov, 2021
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Jian, Y., Fodor, F., Wu, C., Marinissen, E.J.
المصدر: IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 38(5):82-89 Oct, 2021
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Wu, L., Rao, S., Taouil, M., Medeiros, G.C., Fieback, M., Marinissen, E.J., Kar, G.S., Hamdioui, S.
المصدر: IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing IEEE Trans. Emerg. Topics Comput. Emerging Topics in Computing, IEEE Transactions on. 9(2):707-723 Jun, 2021
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Cron, A., Jiao, H., Marinissen, E.J.
المصدر: IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 39(5):5-6 Oct, 2022
-
10مؤتمر
المؤلفون: De Coster, J., De Heyn, P., Pantouvaki, M., Snyder, B., Chen, H., Marinissen, E.J., Absil, P., Van Campenhout, J., Bolt, B.
المصدر: 2016 21th IEEE European Test Symposium (ETS) Test Symposium (ETS), 2016 21th IEEE European. :1-6 May, 2016
Relation: 2016 IEEE European Test Symposium (ETS)
Full Text Finder