المؤلفون: Fontaine, M., Paris, B., Grard, E., Letteron, L., Massiot, M., Tessier, G.

المصدر: IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology IEEE Trans. Compon., Packag. Manufact. Technol. Components, Packaging and Manufacturing Technology, IEEE Transactions on. 3(8):1342-1347 Aug, 2013

المؤلفون: Faqir, M., Batten, T., Mrotzek, T., Knippscheer, S., Massiot, M., Letteron, L., Rochette, S., Vendier, O., Desmarres, J. M., Courtade, F., Kuball, M.

المصدر: 2011 27th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2011 27th Annual IEEE. :314-316 Mar, 2011

Relation: 2011 IEEE/CPMT 27th Semiconductor Thermal Measurement & Management Symposium (SEMI-THERM)

المؤلفون: Haentjens, Benoit, Le Borgne, Alain, Fourn, Erwan, Drissi, M'Hamed, Beauvisage, I., Floc'H, Jean Marie, Haentjens, Yann, Chretien, Gérald, Massiot, M., Maeder, P.

المساهمون: Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Vectrawave, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Egide, EGIDE, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Fourn, Erwan

المصدر: Proceedings of Workshop on Connector for Electronics-program
Workshop on Connector for Electronics-program
Workshop on Connector for Electronics-program, Dec 2011, Paris, France. pp.10

مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::14c7b950ced926c92bd0768943c1bd2b
https://hal.science/hal-00658578

المؤلفون: Haentjens, Benoit, Beauvisage, I., Le Borgne, Alain, Fourn, Erwan, Drissi, M'Hamed, Haentjens, Yann, Gérald, Chrétien, Massiot, M., Maeder, P.

المساهمون: Vectrawave, Egide, EGIDE, Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Vectra, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1)

المصدر: IMAPS-Journée Connectique
IMAPS-Journée Connectique, Dec 2010, Paris, France

مصطلحات موضوعية: [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::6f558a1805f535e006ff3cef9edb01d0
https://hal.science/hal-00544695

المؤلفون: Villemazet, J.F., Drevon, C., Cazaux, J.L., Gallou, N. Le, Favede, L., Massiot, M., Rochette, S., Villemazet, J. F, Plaza, A., Vendier, O., Drevon, A., Fellon, P., Sommet, R., Gasseling, T., Charbonniaud, C.

المساهمون: Thales Alenia Space (TAS), THALES, C2S2, XLIM (XLIM), Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ALCATEL SPACE (ASP), ALCATEL, Egide, EGIDE, Thales Alenia Space

المصدر: ESA Microwave Technology and Techniques Workshop
ESA Microwave Technology and Techniques Workshop, 2008, Amsterdam, Netherlands

مصطلحات موضوعية: ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::80ede10c67d63458f393959449c1af69
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02359117

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المؤلفون: Faqir, M., Pomeroy, J. W., Batten, T., Mrotzek, T., Knippscheer, S., Vendier, O., Rochette, S., Massiot, M., Letteron, L., Desmarres, J. M., Courtade, F., Kuball, M.

المصدر: Journal of Microelectronic & Electronic Packaging; 2013 2nd Quarter, Vol. 10 Issue 2, p54-58, 5p

مصطلحات موضوعية: RELIABILITY in engineering, POWER electronics, PACKAGING materials, PERMEABILITY of packaging, ELECTRONICS packaging

المؤلفون: Faqir, M., Manoi, A., Mrotzek, T., Knippscheer, S., Massiot, M., Buchta, M., Blanck, H., Rochette, S., Vendier, O., Kuball, M.

المصدر: Journal of Microelectronic & Electronic Packaging; 2011 3rd Quarter, Vol. 8 Issue 3, p110-113, 4p

مصطلحات موضوعية: RAMAN effect, THERMOGRAPHY, INFRARED photography, HIGH electron mobility transistor circuits, FINITE element method

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