المؤلفون: Balk, L.J., Heiderhoff, R., Koschinki, P., Maywald, M.

المصدر: Proceedings of the 7th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 1996. Proceedings of the 7th European Symposium on. :1767-1774 1996

Relation: Proceedings of the 7th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Bögle, R., Reichl, F., Maywald, M., Dieterich, M., Becker-Bense, S.

المصدر: In Clinical Neurophysiology March 2024 159:e39-e40

المؤلفون: Zhang, B. Y.^Aff3, Liu, X. X.^Aff4, Maywald, M.^{Aff4, Aff5}, Yin, Q. R.^Aff3, Balk, L. J.^Aff4

المساهمون: Lees, Sidney, editor^Aff1, Ferrari, Leonard A., editor^Aff2

المصدر: Acoustical Imaging. 23:19-24

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Born, A., Olbrich, A., Maywald, M., Wiesendanger, R.

المصدر: Applied Physics A: Materials Science and Processing. 03 1998 66(1):1063-1065

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.