يعرض 1 - 2 نتائج من 2 نتيجة بحث عن '"Medeiros, H. G."', وقت الاستعلام: 1.03s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Exploring the border traps near the SiO2-SiC interface using conductance measurements

    المؤلفون: Kumar, P., Krummenacher, M., Medeiros, H. G., Race, S., Natzke, P., Kovacevic-Badstubner, I., Bathen, M.E., Grossner, U.

    المصدر: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :1-6 Apr, 2024

    Relation: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء