المؤلفون: Mennillo, S., Spessot, A., Vendrame, L., Bortesi, L.

المصدر: 2009 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures, 2009. ICMTS 2009. IEEE International Conference on. :56-61 Mar, 2009

Relation: 2009 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

المؤلفون: Cathignol, A., Mennillo, S., Bordez, S., Vendrame, L., Ghibaudo, G.

المصدر: 2008 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures, 2008. ICMTS 2008. IEEE International Conference on. :90-95 Mar, 2008

Relation: 2008 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS)

المؤلفون: Padovani, A., Chimenton, A., Olivo, P., Fantini, P., Vendrame, L., Mennillo, S.

المصدر: 2007 PhD Research in Microelectronics & Electronics Conference; 2007, p277-280, 4p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.