المؤلفون: Lin, Yi-Sheng, Hsiao, Yu-Hsiang, Liu, Cheng-Hsin, Hsiao, Fan-Ju, Wang, Chen-Chao, Hung, Chin-Pin

المصدر: 2024 IEEE 74th Electronic Components and Technology Conference (ECTC) ECTC Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2024 IEEE 74th. :1804-1807 May, 2024

Relation: 2024 IEEE 74th Electronic Components and Technology Conference (ECTC)

المؤلفون: Zhengqing Zhou, Zechen Du, Yulong Zhang, Guili Yang, Ruixiang Wang, Yuzhe Liu, Peize Zhang, Yaxin Zhang, Xiao Wang

المصدر: Defence Technology, Vol 32, Iss , Pp 430-442 (2024)

مصطلحات موضوعية: Explosive load, Q345 steel, Micro defect, Finite element simulation, Dynamic response, Data fitting, Military Science

وصف الملف: electronic resource

Relation: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2214914723000880; https://doaj.org/toc/2214-9147

URL الوصول: https://doaj.org/article/217de709427441c0a53331dcd02bebd6

المؤلفون: Qian Wu, Anfeng Yu, Yuchen Wang, Yi Qin, Zetian Kang, Huan Liu

المصدر: Materials & Design, Vol 240, Iss , Pp 112866- (2024)

مصطلحات موضوعية: High temperature, Stress, Polycrystalline iron, Micro-defect initiation, Molecular dynamics, Materials of engineering and construction. Mechanics of materials, TA401-492

وصف الملف: electronic resource

Relation: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0264127524002399; https://doaj.org/toc/0264-1275

URL الوصول: https://doaj.org/article/18b89342049f419da33635a2afce1268

المؤلفون: Wan, Yin, Liu, Ding, Ren, Jun-Chao, Liu, Cong-Cong

المصدر: 2019 Chinese Automation Congress (CAC) Chinese Automation Congress (CAC), 2019. :5545-5550 Nov, 2019

Relation: 2019 Chinese Automation Congress (CAC)

المؤلفون: Bai, Haoran, Wang, Zhanyu, Luo, Sangyu, Qu, Zhaoliang^{Aff1, IDs1048302330016_cor4}, Fang, Daining

المصدر: Applied Mathematics and Mechanics: English Edition. 44(5):693-710

المؤلفون: Jingde Huang, Qixun Xiao

المصدر: Energy Reports, Vol 8, Iss , Pp 219-225 (2022)

مصطلحات موضوعية: Cluster cable, Micro defect features, Extraction method, Information acquisition, Power system, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971

وصف الملف: electronic resource

Relation: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2352484722018479; https://doaj.org/toc/2352-4847

URL الوصول: https://doaj.org/article/3051103176b2426bac217cb045904a5e

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.