-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Mineo, R., Salanitri, F.P., Bellitto, G., Kavasidis, I., Filippo, O.D., Millesimo, M., Ferrari, G.M.D., Aldinucci, M., Giordano, D., Palazzo, S., D'Ascenzo, F., Spampinato, C.
المصدر: IEEE Transactions on Medical Imaging IEEE Trans. Med. Imaging Medical Imaging, IEEE Transactions on. 43(8):2866-2877 Aug, 2024
-
2مؤتمر
المؤلفون: Millesimo, M., Fiegna, C., Bakeroot, B., Borga, M., Posthuma, N., Decoutere, S., Sangiorgi, E., Tallarico, A. N.
المصدر: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :1-6 Apr, 2024
Relation: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Millesimo, M., Borga, M., Valentini, L., Bakeroot, B., Posthuma, N., Vohra, A., Decoutere, S., Fiegna, C., Tallarico, A.N.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 70(10):5203-5209 Oct, 2023
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Millesimo, M., Borga, M., Bakeroot, B., Posthuma, N., Decoutere, S., Sangiorgi, E., Fiegna, C., Tallarico, A.N.
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 43(11):1846-1849 Nov, 2022
-
5دورية أكاديميةTCAD Modeling of the Dynamic VTH Hysteresis Under Fast Sweeping Characterization in p-GaN Gate HEMTs
المؤلفون: Tallarico, A.N., Millesimo, M., Bakeroot, B., Borga, M., Posthuma, N., Decoutere, S., Sangiorgi, E., Fiegna, C.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(2):507-513 Feb, 2022
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Millesimo, M., Fiegna, C., Posthuma, N., Borga, M., Bakeroot, B., Decoutere, S., Tallarico, A.N.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 68(11):5701-5706 Nov, 2021
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Millesimo, M., Posthuma, N., Bakeroot, B., Borga, M., Decoutere, S., Tallarico, A.N.
المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 21(1):57-63 Mar, 2021
-
8مؤتمر
المؤلفون: Millesimo, M., Bakeroot, B., Borga, M., Posthuma, N., Decoutere, S., Sangiorgi, E., Fiegna, C., Tallarico, A. N.
المصدر: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022 IEEE International. :10B.2-1-10B.2-6 Mar, 2022
Relation: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
-
9دورية
المؤلفون: Millesimo, M., Borga, M., Valentini, L., Bakeroot, B., Posthuma, N., Vohra, A., Decoutere, S., Fiegna, C., Tallarico, A. N.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices; October 2023, Vol. 70 Issue: 10 p5203-5209, 7p
-
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.
Full Text Finder