المؤلفون: Nazarpour S, Afshar F, Zamani C, Moghimian N, Cirera A

المصدر: Nanoscale Research Letters, Vol 5, Iss 4, Pp 709-713 (2010)

مصطلحات موضوعية: Mass transport, Residual stress, Interfacial properties, Relaxation process, Materials of engineering and construction. Mechanics of materials, TA401-492

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://doaj.org/toc/1931-7573; https://doaj.org/toc/1556-276X

URL الوصول: https://doaj.org/article/1192b554b66b47d28a77844d21e41c4a

المؤلفون: Helal, E., Kurusu, R.S., Moghimian, N., Demarquette, N.R., David, E.

المصدر: 2020 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP) Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP), 2020 IEEE Conference on. :342-345 Oct, 2020

Relation: 2020 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP)

المؤلفون: Kurusu, R., Helal, E., Demarquette, N., David, E., Moghimian, N.

المصدر: 2018 IEEE 2nd International Conference on Dielectrics (ICD) Dielectrics (ICD), 2018 IEEE 2nd International Conference on. :1-3 Jul, 2018

Relation: 2018 IEEE 2nd International Conference on Dielectrics (ICD)

المؤلفون: Barroeta Robles, J., Hong, L., Hind, S., Palardy-Sim, M., Robertson, T., Moghimian, N., Ashrafi, B.

المصدر: In Composite Structures 1 July 2021 267

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.