-
1دورية أكاديمية
المصدر: Applied Mathematics and Nonlinear Sciences, Vol 7, Iss 2, Pp 921-930 (2022)
مصطلحات موضوعية: air defence system, multi-agent, leader-follower model, threat assessment, Mathematics, QA1-939
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2444-8656
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Gao, S., Ho-Ching Iu, H., Erkan, U., Simsek, C., Mou, J., Toktas, A., Wu, R., Tang, X.
المصدر: IEEE Internet of Things Journal IEEE Internet Things J. Internet of Things Journal, IEEE. 11(18):30368-30375 Sep, 2024
-
3دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Antennas and Wireless Propagation Letters Antennas Wirel. Propag. Lett. Antennas and Wireless Propagation Letters, IEEE. 23(7):1961-1965 Jul, 2024
-
4دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Internet of Things Journal IEEE Internet Things J. Internet of Things Journal, IEEE. 11(10):17357-17371 May, 2024
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Mou, J., Han, Z., Cao, Y., Banerjee, S.
المصدر: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs IEEE Trans. Circuits Syst. II Circuits and Systems II: Express Briefs, IEEE Transactions on. 71(5):2824-2828 May, 2024
-
6دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Industrial Electronics IEEE Trans. Ind. Electron. Industrial Electronics, IEEE Transactions on. 71(5):5094-5104 May, 2024
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Mou, J., Ma, T., Banerjee, S., Zhang, Y.
المصدر: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers IEEE Trans. Circuits Syst. I Circuits and Systems I: Regular Papers, IEEE Transactions on. 71(4):1771-1780 Apr, 2024
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Sha, Y., Mou, J., Banerjee, S., Zhang, Y.
المصدر: IEEE Transactions on Industrial Informatics IEEE Trans. Ind. Inf. Industrial Informatics, IEEE Transactions on. 20(3):3835-3846 Mar, 2024
-
9دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Intelligent Transportation Systems IEEE Trans. Intell. Transport. Syst. Intelligent Transportation Systems, IEEE Transactions on. 25(3):2599-2614 Mar, 2024
-
10دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 73:1-11 2024