-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Muck, T., Donyanavard, B., Moazzemi, K., Rahmani, A.M., Jantsch, A., Dutt, N.
المصدر: IEEE Transactions on Multi-Scale Computing Systems IEEE Trans. Multi-Scale Comp. Syst. Multi-Scale Computing Systems, IEEE Transactions on. 4(4):944-951 Jan, 2018
-
2مؤتمر
المؤلفون: Sarma, Santanu, Muck, T., Bathen, Luis A. D., Dutt, N., Nicolau, A.
المصدر: 2015 52nd ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC) Design Automation Conference (DAC), 2015 52nd ACM/EDAC/IEEE. :1-6 Jun, 2015
Relation: 2015 52nd ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC)
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Muck, T. R., Frohlich, A. A.
المصدر: IEEE Transactions on Computers IEEE Trans. Comput. Computers, IEEE Transactions on. 63(11):2880-2893 Nov, 2014
-
4مؤتمر
المؤلفون: Breiteneder, C.J., Muck, T.
المصدر: Proceedings. PARBASE-90: International Conference on Databases, Parallel Architectures, and Their Applications Databases, Parallel Architectures and Their Applications,. PARBASE-90, International Conference on. :178-187 1990
Relation: Proceedings PARBASE '90 International Conference on Databases, Parallel Architectures, and Their Applications
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Barnes, A., Heliere, F., Villar, P., Stuhldreier, H., Beaurain, C., Bouw, D., Grunwald, M., Moess, E., Muck, T., Schildbach, C., Ayles, T., Kramer, A., Bildner, B.
المصدر: In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:378-384
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Mauko, A., Muck, T., Mirtič, B., Mladenovič, A., Kreft, M.
المصدر: In Materials Characterization 2009 60(7):603-609
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Leufgen, M. *, Bass, U., Muck, T., Borzenko, T., Schmidt, G., Geurts, J., Wagner, V., Molenkamp, L.W.
المصدر: In Synthetic Metals 2004 146(3):341-345
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Muck, T. *, Wagner, V., Bass, U., Leufgen, M., Geurts, J., Molenkamp, L.W.
المصدر: In Synthetic Metals 2004 146(3):317-320
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Wagner, V., Muck, T., Geurts, J., Schneider, M., Umbach, E.
المصدر: In Applied Surface Science 15 May 2003 212-213:520-524
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Wagner, V *, Wagner, J, Muck, T, Reuscher, G, Waag, A, Geurts, J, Sadchikov, N, Sorokin, S.V, Ivanov, S.V, Kop’ev, P.S
المصدر: In Applied Surface Science 15 May 2001 175-176:169-174
Full Text Finder