المؤلفون: Ali, Yawar, N, Krishnan K, Sarkar, Debashis Ray, Rao, K. Ramachandra, Chatterjee, Niladri, Bhaskar, Ashish

مصطلحات موضوعية: Computer Science - Emerging Technologies, Computer Science - Computer Vision and Pattern Recognition

URL الوصول: http://arxiv.org/abs/2404.17212

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Thomas A; eNDR Laboratory, School of Physics, IISER Thiruvananthapuram, Trivandrum, Kerala 695551, India., Saha P; eNDR Laboratory, School of Physics, IISER Thiruvananthapuram, Trivandrum, Kerala 695551, India., Sahad E M; eNDR Laboratory, School of Physics, IISER Thiruvananthapuram, Trivandrum, Kerala 695551, India., Krishnan K N; eNDR Laboratory, School of Physics, IISER Thiruvananthapuram, Trivandrum, Kerala 695551, India., Das BC; eNDR Laboratory, School of Physics, IISER Thiruvananthapuram, Trivandrum, Kerala 695551, India.

المصدر: ACS applied materials & interfaces [ACS Appl Mater Interfaces] 2024 Apr 09. Date of Electronic Publication: 2024 Apr 09.

نوع المنشور: Journal Article

بيانات الدورية: Publisher: American Chemical Society Country of Publication: United States NLM ID: 101504991 Publication Model: Print-Electronic Cited Medium: Internet ISSN: 1944-8252 (Electronic) Linking ISSN: 19448244 NLM ISO Abbreviation: ACS Appl Mater Interfaces Subsets: MEDLINE