المؤلفون: W. Schwarzenbach, S. Rouchier, G. Berre, R. Boulet, O. Ledoux, E. Cela, A. Drouin, A. Chapelle, S. Monnoye, H. Biard, K. Alassaad, L. Viravaux, N. Ben Mohamed, D. Radisson, G. Picun, G. Lavaitte, A. Bouville-Lallart, J. Roi, J. Widiez, K. Abadie, E. Rolland, F. Fournel, G. Gelineau, F. Mazen, A. Moulin, C. Moulin, D. Delprat, N. Daval, S. Odoul, P. Sandri, C. Maleville

المصدر: 2022 International Conference on IC Design and Technology (ICICDT).

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4c8f2dd022be86323d12e49fc3a08218
https://doi.org/10.1109/icicdt56182.2022.9933092

المؤلفون: Florence Madeira, Oleg Kononchuk, Frédéric Mazen, Didier Landru, Alexandre Reinhardt, D. Massy, François Rieutord, Samuel Tardif, N. Ben Mohamed

المساهمون: SOITEC SA, Nanostructures et Rayonnement Synchrotron (NRS ), Modélisation et Exploration des Matériaux (MEM), Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])

المصدر: Physical Review Letters
Physical Review Letters, 2018, 121 (19), pp.195501. ⟨10.1103/PhysRevLett.121.195501⟩
Physical Review Letters, American Physical Society, 2018, 121 (19), pp.195501. ⟨10.1103/PhysRevLett.121.195501⟩

مصطلحات موضوعية: Materials science, Silicon, Acoustics, Front (oceanography), General Physics and Astronomy, chemistry.chemical_element, Pattern formation, 02 engineering and technology, Surface finish, Acoustic wave, 021001 nanoscience & nanotechnology, 01 natural sciences, Physics::Geophysics, [PHYS.MECA.ACOU]Physics [physics]/Mechanics [physics]/Acoustics [physics.class-ph], [PHYS.MECA.MEMA]Physics [physics]/Mechanics [physics]/Mechanics of materials [physics.class-ph], Wavelength, Acoustic emission, chemistry, 0103 physical sciences, Fracture (geology), 010306 general physics, 0210 nano-technology

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ffe72aa9aa3038aaaa385f7712e46097
https://hal.science/hal-01935677/file/CFIpaper_DM_FR_v4.pdf

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: N. Ben Mohamed, A. Beaumont, A.-M. Papon, C. Maleville, Eric Neyret, Christelle Lagahe-Blanchard, N. Sousbie, Konstantin Bourdelle, Takeshi Akatsu, Daniel Delprat, A.M. Charvet, Gabriela Suciu, Fabrice Letertre, Carlos Mazure, N. Kernevez

المصدر: 2004 IEEE International SOI Conference (IEEE Cat. No.04CH37573).

مصطلحات موضوعية: Materials science, Wafer bonding, business.industry, Flow (psychology), Process (computing), Electronic engineering, Silicon on insulator, Optoelectronics, Wafer, Substrate (electronics), business, Layer (electronics), PMOS logic

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3f1368fa5f58141412fe61580cfb56c5
https://doi.org/10.1109/soi.2004.1391572

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Phuong Nguyen, Alice Boussagol, K. K. Bourdelle, N. Ben Mohamed, Takeshi Akatsu, Ian Cayrefourcq, Eric Guiot, N. Sousbie

المصدر: Journal of Applied Physics. 97:083527

مصطلحات موضوعية: Materials science, Silicon, business.industry, Analytical chemistry, General Physics and Astronomy, chemistry.chemical_element, Microstructure, Amorphous solid, Crystal, Ion implantation, chemistry, Transmission electron microscopy, Phenomenological model, Optoelectronics, business, Layer (electronics)

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::686f360e6ccfffed69cdc822b18ce802
https://doi.org/10.1063/1.1865318

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.