المؤلفون: E. Mutez, M. Swiderski, D. Devos, C. Moreau, G. Baille, A. Degardin, G. Ryckewaert, N. Carriere, A. Kreisler, C. Simonin, N. Rouaix, M. Tir, P. Krystkowiak, N. Ramdane, M. Génin, B. Sablonnière, L. Defebvre, V. Huin

المساهمون: CHU Amiens-Picardie, CHirurgie, IMagerie et REgénération tissulaire de l’extrémité céphalique - Caractérisation morphologique et fonctionnelle - UR UPJV 7516 (CHIMERE), Université de Picardie Jules Verne (UPJV), CHU Lille, Santé Publique : épidémiologie et qualité des soins (EA 2694), Faculté de Médecine Henri Warembourg - Université de Lille-Centre d'Etudes et de Recherche en Informatique Médicale [Lille] (CERIM), Université de Lille, Centre de Recherche Jean-Pierre AUBERT Neurosciences et Cancer - U837 (JPArc), Université Lille Nord de France (COMUE)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Université de Lille, Service de neurologie et pathologie du mouvement, Hôpital Roger Salengro [Lille]-Centre Hospitalier Régional Universitaire [Lille] (CHRU Lille)

المصدر: European Journal of Neurology
European Journal of Neurology, 2023, ⟨10.1111/ene.15788⟩

مصطلحات موضوعية: Neurology, Parkinson's disease, multiple system atrophy, Mendelian transmission, Neurology (clinical), dementia with Lewy bodies, [SDV.MHEP]Life Sciences [q-bio]/Human health and pathology, genetic testing

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f51c94318acde8cf142ad11bb14eb280
https://hal-u-picardie.archives-ouvertes.fr/hal-04032320

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Frederic Boeuf, N. Carriere, Thomas Skotnicki, Claire Fenouillet-Beranger, Stephane Monfray

المصدر: Solid-State Electronics. 48:961-967

مصطلحات موضوعية: Engineering, business.industry, Electrical engineering, Process (computing), Silicon on insulator, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Condensed Matter Physics, Subthreshold slope, Electronic, Optical and Magnetic Materials, CMOS, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Materials Chemistry, Electronic engineering, Node (circuits), Wafer, Electrical and Electronic Engineering, business, Metal gate, Communication channel

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8ab920b7ba3add9909ea96837aae33f4
https://doi.org/10.1016/j.sse.2003.12.039

المؤلفون: Alexandre Talbot, R. Palla, Francois Leverd, Pascale Mazoyer, Yves Morand, Thomas Skotnicki, Didier Dutartre, N. Carriere, Stephane Monfray, N. Buffet, D. Chanemougame, Y. Le Friec, C. Jenny, R. Pantel, S. Borel, Claire Fenouillet-Beranger, S. Descombes, D. Louis

المصدر: Solid-State Electronics. 48:887-895

مصطلحات موضوعية: Thin layers, Materials science, Silicon, business.industry, Transistor, Electrical engineering, Silicon on insulator, chemistry.chemical_element, Condensed Matter Physics, Electronic, Optical and Magnetic Materials, law.invention, Threshold voltage, CMOS, chemistry, law, Materials Chemistry, Optoelectronics, Node (circuits), Electrical and Electronic Engineering, business, Metal gate

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f8b4c546ac0bcf5e4b55339fbd8a95a7
https://doi.org/10.1016/j.sse.2003.12.013