-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: W. Schwarzenbach, B.-Y. Nguyen, L. Ecarnot, S. Loubriat, M. Detard, E. Cela, C. Bertrand-Giuliani, G. Chabanne, C. Maddalon, N. Daval, C. Maleville
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 7, Pp 863-868 (2019)
مصطلحات موضوعية: FD-SOI, SmartCut, 3D integration, low temperature, CMOS, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
2
المؤلفون: W. Schwarzenbach, S. Rouchier, G. Berre, R. Boulet, O. Ledoux, E. Cela, A. Drouin, A. Chapelle, S. Monnoye, H. Biard, K. Alassaad, L. Viravaux, N. Ben Mohamed, D. Radisson, G. Picun, G. Lavaitte, A. Bouville-Lallart, J. Roi, J. Widiez, K. Abadie, E. Rolland, F. Fournel, G. Gelineau, F. Mazen, A. Moulin, C. Moulin, D. Delprat, N. Daval, S. Odoul, P. Sandri, C. Maleville
المصدر: 2022 International Conference on IC Design and Technology (ICICDT).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4c8f2dd022be86323d12e49fc3a08218
https://doi.org/10.1109/icicdt56182.2022.9933092 -
3
المؤلفون: N. Daval, A. Drouin, H. Biard, L. Viravaux, D. Radisson, S. Rouchier, G. Gaudin, J. Widiez, F. Allibert, E. Rolland, K. Vladimirova, G. Gelineau, N. Troutot, C. Navone, G. Berre, D. Bosch, Y.L Leow, A. Duboust, J-M. Bethoux, R. Boulet, A. Chapelle, E. Cela, G. Lavaitte, A. Bouville-Lallart, S. Bhargava, W. Schwarzenbach, C. Maddalon, I. Radu, S. Odoul, D. Delprat, O. Bonnin, C. Maleville
المصدر: 2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2a5b3e25b6304080f27f5d269907d44f
https://doi.org/10.1109/edtm53872.2022.9798032 -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5
المؤلفون: O. Kononchuk, B.-Y. Nguyen, H. Moriceau, F. Fournel, F. Rieutord, S. Cristoloveanu, S. Ghosh, D. Burnett, F. Andrieu, J.P. Colinge, B. Cheng, A. Brown, E. Towie, N. Daval, K.K. Bourdelle, A. Asenov, S. Markov, A.S.M. Zain, M.G. Khazhinsky, J.-P. Raskin, M. Emam, N. Sugii, C.S. Tan, W. Bogaerts, S.K. Selvaraja, K. Mori
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e15b6bade8db64e99201e24743ba05f8
https://doi.org/10.1016/b978-0-85709-526-8.50017-3 -
6
المؤلفون: Frederic Monsieur, L. Grenouillet, Nicolas Posseme, Thierry Poiroux, O. Faynot, Qing Liu, V. Destefanis, Shom Ponoth, Bruce B. Doris, Amit Kumar, N. Daval, Nicolas Loubet, Y. Le Tiec, Sanjay Mehta, M. Vinet
المصدر: Proceedings of Technical Program of 2012 VLSI Technology, System and Application.
مصطلحات موضوعية: Materials science, Silicon, business.industry, Transistor, Doping, Silicon on insulator, chemistry.chemical_element, Nanotechnology, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, law.invention, Ion implantation, chemistry, law, Logic gate, MOSFET, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Electrical performance, Optoelectronics, business, Hardware_LOGICDESIGN
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e0d27080e96609ddb8b500bfbd526cd9
https://doi.org/10.1109/vlsi-tsa.2012.6210170 -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.