المؤلفون: N. G. Kiyevets, A. I. Korzun

المصدر: Doklady Belorusskogo gosudarstvennogo universiteta informatiki i radioèlektroniki, Vol 0, Iss 5, Pp 38-43 (2019)

مصطلحات موضوعية: последовательность ключей, статистическое тестирование, Electronics, TK7800-8360

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/339; https://doaj.org/toc/1729-7648

URL الوصول: https://doaj.org/article/13dab0dc3eef4a95a51697bb41a887f9

المؤلفون: N. G. Kiyevets, A. I. Korzun

المصدر: Doklady Belorusskogo gosudarstvennogo universiteta informatiki i radioèlektroniki, Vol 0, Iss 3, Pp 12-17 (2019)

مصطلحات موضوعية: тестовая статистика, тест серий, тест аппроксимированной энтропии, Electronics, TK7800-8360

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/299; https://doaj.org/toc/1729-7648

URL الوصول: https://doaj.org/article/ad649413ec8e4f35b00f7a4607cca8e6

المؤلفون: N. G. Kiyevets, A. I. Korzun

المصدر: Doklady Belorusskogo gosudarstvennogo universiteta informatiki i radioèlektroniki, Vol 0, Iss 3, Pp 78-84 (2019)

مصطلحات موضوعية: two-level testing, random sequence, theoretical distribution, Electronics, TK7800-8360

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/866; https://doaj.org/toc/1729-7648

URL الوصول: https://doaj.org/article/15d886ee02244375bb5b4d8d5069aced