-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3
المؤلفون: Ondrej L. Krivanek, Andrew Bleloch, Jordan A. Hachtel, Benjamin Plotkin-Swing, G.J. Corbin, M.V. Hoffman, C.E. Meyer, Juan C. Idrobo, N.J. Bacon, M.T. Hotz, Niklas Dellby, Tracy C. Lovejoy
المصدر: Ultramicroscopy. 203
مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Materials science, Spectrometer, business.industry, Electron energy loss spectroscopy, Resolution (electron density), 02 engineering and technology, 021001 nanoscience & nanotechnology, 01 natural sciences, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Electronic, Optical and Magnetic Materials, law.invention, law, 0103 physical sciences, Scanning transmission electron microscopy, Optoelectronics, Electron microscope, 0210 nano-technology, business, Spectroscopy, Instrumentation, Image resolution, Monochromator
-
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5
المؤلفون: Benjamin Plotkin-Swing, G.J. Corbin, Z.S. Szilagyi, M.V. Hoffman, C.E. Meyer, Andreas Mittelberger, Tracy C. Lovejoy, P. Hrncirik, Ondrej L. Krivanek, Niklas Dellby, N. Johnson, Andrew Bleloch, N.J. Bacon, G.S. Skone, M.T. Hotz
المصدر: Microscopy and Microanalysis. 25:512-513
مصطلحات موضوعية: Software, Materials science, business.industry, Detector, Electronic engineering, business, Instrumentation
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8
المؤلفون: Niklas Dellby, M.F. Murfitt, Z.S. Szilagyi, George Corbin, N.J. Bacon, Andrew McManama-Smith, Ondrej L. Krivanek, Peter D. Nellist
مصطلحات موضوعية: Spherical aberration, Optics, Materials science, business.industry, law, Electron energy loss spectroscopy, Resolution (electron density), Electron microscope, business, Dark field microscopy, law.invention
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ed3c7419741df4fb3385f18613da3e7d
https://ora.ox.ac.uk/objects/uuid:de369784-a03d-4e3e-b56c-27429ca87aa4 -
9
المؤلفون: Ondrej L. Krivanek, Niklas Dellby, Andrew Bleloch, N.J. Bacon, Tracy C. Lovejoy, M.V. Hoffman
المصدر: Microscopy and Microanalysis. 23:1552-1553
مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, 0103 physical sciences, Optoelectronics, 02 engineering and technology, 021001 nanoscience & nanotechnology, 010306 general physics, 0210 nano-technology, business, High energy resolution, 01 natural sciences, Instrumentation
-
10
المؤلفون: Niklas Dellby, Christopher S. Own, M.F. Murfitt, N.J. Bacon, G.J. Corbin, Z.S. Szilagyi, Ondrej L. Krivanek, Petr Hrncirik, Jonathan P. Ursin
المصدر: Philosophical Transactions of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences. 367:3683-3697
مصطلحات موضوعية: Conventional transmission electron microscope, Materials science, Electron spectrometer, Physics::Instrumentation and Detectors, business.industry, General Mathematics, Electron energy loss spectroscopy, General Engineering, Scanning confocal electron microscopy, General Physics and Astronomy, law.invention, Optics, law, Scanning transmission electron microscopy, Physics::Accelerator Physics, Energy filtered transmission electron microscopy, Electron beam-induced deposition, Nuclear Experiment, business, Monochromator
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2d166dc25a1235928aa03cf1c2ed9e55
https://doi.org/10.1098/rsta.2009.0087