يعرض 1 - 10 نتائج من 481 نتيجة بحث عن '"NCFET"', وقت الاستعلام: 1.27s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Fabrication of High-Gain CMOS Inverter Based on Ambipolar WSe2 Negative-Capacitance FETs With Ferroelectric HfZrAlO as Gate Dielectric

    المؤلفون: Tao, X., Jiang, W., Liu, L., Xu, J.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(3):2203-2209 Mar, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Impact of Ferroelectric Polarization Gradient and Viscosity Coefficient on Performance of Negative Capacitance FET Circuits

    المؤلفون: Machhiwar, Yogendra, Chauhan, Nitanshu, Agarwal, Harshit

    المصدر: 2023 IEEE 20th India Council International Conference (INDICON) India Council International Conference (INDICON), 2023 IEEE 20th. :679-683 Dec, 2023

    Relation: 2023 IEEE 20th India Council International Conference (INDICON)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Era of Sentinel Tech: Charting Hardware Security Landscapes Through Post-Silicon Innovation, Threat Mitigation and Future Trajectories

    المؤلفون: Srinivas, M.B.R., Elango, K.

    المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 12:68061-68108 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    RF/Analog Performance Optimization and Assessing Linearity/Distortion FoMs of HDDP-DG-NCFET for Terahertz Applications

    المؤلفون: MalvikaAff1, IDs13369023086712_cor1, Choudhuri, B., Kavicharan, M.

    المصدر: Arabian Journal for Science and Engineering. 49(5):7179-7195

    Find this article in full text from Springer Verlag. Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    NCTFET Device for Low Power VLSI Application

    المؤلفون: Naidu, Menda Lokesh, Patnaik, Manipatruni Vineet, Sinha, Sanjeet Kumar, Chander, Sweta, Chaudhary, Rekha

    المصدر: 2023 International Conference on Sustainable Computing and Smart Systems (ICSCSS) Sustainable Computing and Smart Systems (ICSCSS), 2023 International Conference on. :1127-1132 Jun, 2023

    Relation: 2023 International Conference on Sustainable Computing and Smart Systems (ICSCSS)

    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    Simulation Study of Stacked Oxide Layer NCFET for RF Applications

    المؤلفون: S, Navya V, Victor Du John, H., Kumar, J.S. Raj, Franklin, Angen, Nirmal, D.

    المصدر: 2023 8th International Conference on Communication and Electronics Systems (ICCES) Communication and Electronics Systems (ICCES), 2023 8th International Conference on. :90-94 Jun, 2023

    Relation: 2023 8th International Conference on Communication and Electronics Systems (ICCES)

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Improved Performance of MoS2 Negative-Capacitance Transistors by Using Hf1-xAlxOy as Gate Dielectric Plus NH3-Plasma Treatment

    المؤلفون: Xia, Y., Liu, L., Chen, S., Xu, J.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 70(9):4892-4898 Sep, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    Compact model for MFIS-NCFETs considering deep-level interface trap states

    المؤلفون: Liu, Xin, Peng, Shaoman, Lau, Heung Nung, Huang, XinchengAff3, IDs10825024021941_cor4, Deng, WanlingAff1, IDs10825024021941_cor5

    المصدر: Journal of Computational Electronics. :1-12

    Find this article in full text from Springer Verlag. Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Sub-threshold Swing Analysis for NC-TFET in Low-Power Biomedical Applications

    المؤلفون: Singh, Sheetal, Wairya, Subodh

    المصدر: 2023 IEEE Devices for Integrated Circuit (DevIC) Devices for Integrated Circuit (DevIC), 2023 IEEE. :481-485 Apr, 2023

    Relation: 2023 IEEE Devices for Integrated Circuit (DevIC)

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية أكاديمية
    On the Existence of Negative Capacitance: Examining Ferroelectric-Dielectric Stack Experiments Using the NLS and LK Models

    المؤلفون: Cam, T., Byers, J., Wang, J.K., VanEssen, C., Gudem, P.S., Kienle, D., Vaidyanathan, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 70(7):3542-3550 Jul, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء