يعرض 1 - 10 نتائج من 106 نتيجة بحث عن '"Najafi, M.H."', وقت الاستعلام: 1.02s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Embedded Systems Letters IEEE Embedded Syst. Lett. Embedded Systems Letters, IEEE. 16(2):222-226 Jun, 2024

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Nanotechnology IEEE Trans. Nanotechnology Nanotechnology, IEEE Transactions on. 23:195-202 2024

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 42(11):3787-3800 Nov, 2023

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 42(10):3474-3478 Oct, 2023

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Journal on Emerging and Selected Topics in Circuits and Systems IEEE J. Emerg. Sel. Topics Circuits Syst. Emerging and Selected Topics in Circuits and Systems, IEEE Journal on. 13(1):1-6 Mar, 2023

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Journal on Emerging and Selected Topics in Circuits and Systems IEEE J. Emerg. Sel. Topics Circuits Syst. Emerging and Selected Topics in Circuits and Systems, IEEE Journal on. 13(1):295-311 Mar, 2023

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Quantum Engineering IEEE Trans. Quantum Eng. Quantum Engineering, IEEE Transactions on. 4:1-14 2023

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Computers IEEE Trans. Comput. Computers, IEEE Transactions on. 71(6):1425-1439 Jun, 2022

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs IEEE Trans. Circuits Syst. II Circuits and Systems II: Express Briefs, IEEE Transactions on. 69(5):2423-2427 May, 2022

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 38(6):36-43 Dec, 2021