-
1
المؤلفون: Naveen Parthasarathy
المساهمون: Uday Nayak, Ya Lei Sun, Wang Dan Wei, School of Electrical and Electronic Engineering
مصطلحات موضوعية: Development (topology), Computer science, Iterative learning control, Engineering::Electrical and electronic engineering [DRNTU], Control engineering, Mechatronics, Test (assessment)
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ed94ea299b6bc1f0468fb2493cbb15ee
https://hdl.handle.net/10356/46762 -
2مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.