يعرض 1 - 10 نتائج من 2,250 نتيجة بحث عن '"Near-infrared spectroscopy (NIRS)"', وقت الاستعلام: 1.44s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر

    المصدر: 2024 12th International Winter Conference on Brain-Computer Interface (BCI) Brain-Computer Interface (BCI), 2024 12th International Winter Conference on. :1-6 Feb, 2024

    Relation: 2024 12th International Winter Conference on Brain-Computer Interface (BCI)

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Huang, H., Xu, Y., Zhang, J., State, R.

    المصدر: IEEE Internet of Things Journal IEEE Internet Things J. Internet of Things Journal, IEEE. 11(7):12071-12086 Apr, 2024

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Biomedical Circuits and Systems IEEE Trans. Biomed. Circuits Syst. Biomedical Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 18(2):396-407 Apr, 2024

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Zou, L., Qiao, J., Yu, X., Chen, X., Lei, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Artificial Intelligence IEEE Trans. Artif. Intell. Artificial Intelligence, IEEE Transactions on. 5(3):1398-1410 Mar, 2024

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Yu, Y., Yao, M., Huang, J., Xiao, X.

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 73:1-19 2024

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Ergun, E., Aydemir, O.

    المصدر: IEEE Transactions on Cognitive and Developmental Systems IEEE Trans. Cogn. Dev. Syst. Cognitive and Developmental Systems, IEEE Transactions on. 15(2):454-463 Jun, 2023

  7. 7
    دورية أكاديمية
  8. 8
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 70(3):1102-1108 Mar, 2023

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Guo, W., Fang, Y., Sheng, X., Zhu, X.

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 72:1-10 2023

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 72:1-13 2023