-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2تقرير
-
3مؤتمر
المؤلفون: Ng, C.-M., Nguyen, C.-T., Tran, D.-N., Tan, T.-S., Yeow, S.-W.
المصدر: International 2005 Computer Graphics Computer Graphics International 2005. :100-107 2005
Relation: Computer Graphics International 2005
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Koh, S.-M., Kong, E. Y.-J., Liu, B., Ng, C.-M., Samudra, G. S., Yeo, Y.-C.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 58(11):3852-3862 Nov, 2011
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Ang, D. S., Teo, Z. Q., Ho, T. J. J., Ng, C. M.
المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 11(1):19-34 Mar, 2011
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Peng, J. W., Singh, N., Lo, G. Q., Bosman, M., Ng, C. M., Lee, S. J.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 58(1):74-79 Jan, 2011
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Yang, J. B., Chen, T. P., Gong, Y., Tan, S. S., Ng, C. M., Chan, L.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 57(1):238-243 Jan, 2010
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Theng, A. L., Goh, W. L., Lo, G. Q., Chan, L., Ng, C. M.
المصدر: IEEE Transactions on Nanotechnology IEEE Trans. Nanotechnology Nanotechnology, IEEE Transactions on. 7(6):795-799 Nov, 2008
-
9مؤتمر
المؤلفون: Ong, C. Y., Pey, K. L., Wang, X. C., Zheng, H. Y., Li, Z. P., Wong, C. P., Shen, Z. X., Ong, B. S., Ng, C. M., Chan, L.
المصدر: Proceedings of the 2009 12th International Symposium on Integrated Circuits Integrated Circuits, ISIC '09. Proceedings of the 2009 12th International Symposium on. :318-320 Dec, 2009
Relation: 2009 12th International Symposium on Integrated Circuits (ISIC)
-
10مؤتمر
المؤلفون: Ang, D. S., Teo, Z. Q., Ng, C. M.
المصدر: 2009 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report Integrated Reliability Workshop Final Report, 2009. IRW '09. IEEE International. :25-29 Oct, 2009
Relation: 2009 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IRW)