يعرض 1 - 10 نتائج من 280 نتيجة بحث عن '"Ng, C. M."', وقت الاستعلام: 1.10s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    تقرير
    A new probability model with support on unit interval: Structural properties, regression of bounded response and applications

    المؤلفون: Chakraborty, S., Ong, S. H., Ng, C. M.

    مصطلحات موضوعية: Mathematics - Statistics Theory, Statistics - Applications

    URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1709.05613

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Analyzing pre-fetching in large-scale visual simulation

    المؤلفون: Ng, C.-M., Nguyen, C.-T., Tran, D.-N., Tan, T.-S., Yeow, S.-W.

    المصدر: International 2005 Computer Graphics Computer Graphics International 2005. :100-107 2005

    Relation: Computer Graphics International 2005

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Contact-Resistance Reduction for Strained n-FinFETs With Silicon–Carbon Source/Drain and Platinum-Based Silicide Contacts Featuring Tellurium Implantation and Segregation

    المؤلفون: Koh, S.-M., Kong, E. Y.-J., Liu, B., Ng, C.-M., Samudra, G. S., Yeo, Y.-C.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 58(11):3852-3862 Nov, 2011

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Reassessing the Mechanisms of Negative-Bias Temperature Instability by Repetitive Stress/Relaxation Experiments

    المؤلفون: Ang, D. S., Teo, Z. Q., Ho, T. J. J., Ng, C. M.

    المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 11(1):19-34 Mar, 2011

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Germanium Nanowire Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect Transistor Fabricated by Complementary-Metal–Oxide–Semiconductor-Compatible Process

    المؤلفون: Peng, J. W., Singh, N., Lo, G. Q., Bosman, M., Ng, C. M., Lee, S. J.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 58(1):74-79 Jan, 2011

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Improvement of Negative Bias Temperature Instability by Stress Proximity Technique

    المؤلفون: Yang, J. B., Chen, T. P., Gong, Y., Tan, S. S., Ng, C. M., Chan, L.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 57(1):238-243 Jan, 2010

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    Dual Nanowire Silicon MOSFET With Silicon Bridge and TaN Gate

    المؤلفون: Theng, A. L., Goh, W. L., Lo, G. Q., Chan, L., Ng, C. M.

    المصدر: IEEE Transactions on Nanotechnology IEEE Trans. Nanotechnology Nanotechnology, IEEE Transactions on. 7(6):795-799 Nov, 2008

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Formation of N+/P junction in GaAs using pulsed laser anneal

    المؤلفون: Ong, C. Y., Pey, K. L., Wang, X. C., Zheng, H. Y., Li, Z. P., Wong, C. P., Shen, Z. X., Ong, B. S., Ng, C. M., Chan, L.

    المصدر: Proceedings of the 2009 12th International Symposium on Integrated Circuits Integrated Circuits, ISIC '09. Proceedings of the 2009 12th International Symposium on. :318-320 Dec, 2009

    Relation: 2009 12th International Symposium on Integrated Circuits (ISIC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Reassessing NBTI mechanisms by ultrafast charge pumping measurement

    المؤلفون: Ang, D. S., Teo, Z. Q., Ng, C. M.

    المصدر: 2009 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report Integrated Reliability Workshop Final Report, 2009. IRW '09. IEEE International. :25-29 Oct, 2009

    Relation: 2009 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IRW)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء