-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Monaco, F., Hubert, M., Da Silva, J.C., Favre-Nicolin, V., Montinaro, D., Cloetens, P., Laurencin, J.
المصدر: In Materials Characterization May 2022 187
-
2دورية أكاديميةModified strain and elastic energy behavior of Ge islands formed on high-miscut Si(0 0 1) substrates
المؤلفون: Marçal, L.A.B., Richard, M.-I., Persichetti, L., Favre-Nicolin, V., Renevier, H., Fanfoni, M., Sgarlata, A., Schülli, T.Ü., Malachias, A.
المصدر: In Applied Surface Science 1 February 2019 466:801-807
-
3تقرير
المؤلفون: Tardif, S., Favre-Nicolin, V., Lançon, F., Arras, E., Jamet, M., Barski, A., Porret, C., Bayle-Guillemaud, P., Pochet, P., Devillers, T., Rovezzi, M.
المصدر: Phys. Rev. B82 (2010), 104101
مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Materials Science
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1006.5439
-
4تقرير
المؤلفون: Favre-Nicolin, V., Mastropietro, F., Eymery, J., Camacho, D., Niquet, Y. M., Borg, B. M., Messing, M. E., Wernersson, L. -E., Algra, R. E., Bakkers, E. P. A. M., Metzger, T. H., Harder, R, Robinson, I. K.
المصدر: New Journal of Physics 12 (2010) 035013
مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Materials Science
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/0910.5491
-
5تقرير
المؤلفون: Favre-Nicolin, V., Eymery, J., Koster, R. K., Gentile, P.
المصدر: Phys. Rev. B 79 (2009), 195401
مصطلحات موضوعية: Physics - Instrumentation and Detectors, Condensed Matter - Materials Science
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/0809.2222
-
6تقرير
المؤلفون: Coraux, J., Favre-Nicolin, V., Renevier, H., Proietti, M. G., Daudin, B.
مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Materials Science
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/cond-mat/0509016
-
7
-
8تقرير
المؤلفون: Letoublon, A., Favre-Nicolin, V., Renevier, H., Proietti, M. G., Monat, C., Gendry, M., Marty, O., Priester, C.
مصطلحات موضوعية: Condensed Matter
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/cond-mat/0309522
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Davtyan, A., Favre-Nicolin, V., Lewis, R. B., Küpers, H., Geelhaar, L., Kriegner, D.Aff4, Aff5, Bahrami, D., Al-Hassan, A., Chahine, G., Loffeld, O., Pietsch, U.
المصدر: MRS Advances. 3(39):2317-2322
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Girard, G., Berthelon, R., Andrieu, F., Leake, S. J., Chahine, G. A., Schülli, T., Eymery, J., Favre-Nicolin, V.
المصدر: Journal of Applied Physics; 3/7/2021, Vol. 129 Issue 9, p1-8, 8p
مصطلحات موضوعية: X-ray imaging, NANOSTRUCTURES, STATISTICS, X-ray diffraction, X-ray microscopy, CONDENSATION